MSTホームページにて、下記分析事例2件を公開しました。 ・MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)による有機ELデバイスの評価（C0411） ・高電子移動度トランジスタの評価（C0410） 詳細はMSTホームページをご覧ください。 http://www.mst.or.jp/

MSTホームページにて、下記分析事例2件を公開しました。 ・粉体異物の定性分析（C0408） ・ABF-STEM観察によるGaNの極性評価（C0409） 詳細はMSTホームページをご覧ください。 http://www.mst.or.jp/

MSTホームページにて、下記分析事例3件を公開しました。 ・溶解再沈法による高分子材料の添加剤評価（C0407） ・高分子材料の添加剤評価（C0406） ・イオン化法ESI・APCIによる検出成分の違い（B0220） 詳細はMSTホームページをご覧ください。 http://www.mst.or.jp/

MSTホームページにて、分析事例「ニッケルめっき剥離面の評価（C0404）」を公開しました。 詳細はMSTホームページをご覧ください。 http://www.mst.or.jp/

MSTホームページにて、分析事例「TDSによるSiN膜の昇温脱離ガス分析（C0403）」を公開しました。 詳細はMSTホームページをご覧ください。 http://www.mst.or.jp/

MSTホームページにて、分析事例「TDSの試料セッティング（B0219）」を公開しました。 詳細はMSTホームページをご覧ください。 http://www.mst.or.jp/

アルカリ金属であるLi,Na,Kは半導体における各種故障原因の要の元素です。これらは測定時に膜中を移動してしまう可動イオンと言われており、正確な分布を得ることが困難とされてきました。 今回、スパッタイオン源にC60（フラーレン）を用いたTOF-SIMSの深さ方向分析を行うことにより、常温下の測定でもアルカリ金属の移動が抑えられることがわかりました。この測定を行うことで、SiO2膜中の不純物について定性・定量分析を行うことが可能です。 ★★★★★★★★★★★★★★★★★ 　分析データはリンク先をご覧ください ★★★★★★★★★★★★★★★★★

キトサンは、抗菌性や保湿性などをもつため、医療、食品、化粧品、衣料品などの幅広い分野で用いられています。日常品である綿棒には、抗菌性をもたせるためキトサンを配合したものがあります。 そこで、マッピングにより可視化が可能であり、スペクトル測定により成分評価が可能なTOF-SIMSを用いて、綿棒に含まれるキトサンの評価を行いました。 ★★★★★★★★★★★★★★★★★ 　分析データはリンク先をご覧ください ★★★★★★★★★★★★★★★★★

フレキシブル薄膜Si太陽電池において、a-Si(アモルファスシリコン)中のドーパントの濃度分布を定量的に評価した事例をご紹介します。樹脂で封止されたサンプルを解体し、SIMS分析を行いました。Bの分析(図3)では表面側の浅い箇所に存在するため、深さ方向分解能を高めて測定を行いました。 Pの分析(図4)ではa-Si中に多量のHが存在して質量干渉を起こすため、高質量分解能法によりH+Siを分離してPのみを検出する条件で測定を行いました。 ★★★★★★★★★★★★★★★★★ 　分析データはリンク先をご覧ください ★★★★★★★★★★★★★★★★★

SIMS分析において、より確かな濃度定量値を算出するには測定サンプルと組成の近い標準サンプルを用いることが不可欠です。 紫外LEDやUVセンサに用いられるAlGaNについて、Al含有量に応じたAlGaN標準試料を幅広く取り揃えたことで、より高精度にAlGaN中不純物濃度を求めることができるようになりました。 UVセンサのSIMS分析を行い、ドーパントであるSi濃度を定量した事例を紹介します。 ★★★★★★★★★★★★★★★★★ 　分析データはリンク先をご覧ください ★★★★★★★★★★★★★★★★★

2011年4月13日（水）～15日（金）にかけ、東京ビッグサイトにて開催されました展示会「第21回ファインテック ジャパン」では、MSTブースへ多くの方にご来場いただきましてまことにありがとうございました。 MSTブースにて展示いたしました分析事例のパネルを、カタログとして公開いたしました。 展示会にご来場いただけなかった方、MSTブースにお立ち寄りいただけなかった方、もう一度MSTの展示会資料をご覧になりたい方、ぜひご覧ください。 ★MSTの今後の展示会出展予定 ・2011年10月26日(水)～28日(金)　 　GreenDevice2011　パシフィコ横浜 ・2011年12月5日(月)～7日(水) 　PVJapan2011　幕張メッセ ・2011年12月7日(水)～9日(金) 　セミコン・ジャパン2011　幕張メッセ 　

MSTが昨年出展いたしました、下記3件の展示会にて展示いたしましたパネルをカタログとして登録いたしました。 ・セミコン・ジャパン 2010 ・Green Device 2010 ・ネイチャーフォトニクステクノロジーコンファレンス2010 展示会にご来場いただけなかった方、MSTブースにお立ち寄りいただけなかった方、もう一度MSTの展示会資料をご覧になりたい方、ぜひご覧ください。 「取扱製品・サービスのカテゴリ」より、「MSTが出展した展示会の資料」からご覧いただけます。 ★★MSTは、2011年も展示会に積極的に出展いたします★★ 【今後の出展予定】 　・PV EXPO2011 　　　2011年3月2日(水)～4日(金) 　・JSAP EXPO SPRING 2011 理化学・計測機材展 　　　2011年3月24日（木）～27日（日） 　・PV Japan2011 　　　2011年7月27日(水)～29日(金) 会場で皆様にお会いできることを楽しみにしております。