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【分析事例】光デバイス

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【測定法】質量分析法
【測定法】光電子分光法
【測定法】電子顕微鏡観察・分析
【測定法】振動分光
【測定法】X線回折関連
【測定法】SPM関連
【測定法】故障解析
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【加工法・処理法】
その他のサービス・サポート情報
【分析事例】LSI・メモリ
【分析事例】光デバイス
【分析事例】太陽電池
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【分析事例】ディスプレイ
【分析事例】酸化物半導体
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【分析事例】電子部品
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【分析事例】照明
【分析事例】製造装置・部品
【分析事例】バイオテクノロジ
【分析事例】化粧品
【分析事例】食品
【分析事例】医薬品
【分析事例】医療機器
【分析事例】日用品
【分析事例】環境
【分析事例】その他
MSTが出展した展示会の資料

【分析事例】光デバイス

【分析事例】光デバイス

【分析事例】光デバイス

光デバイスの分析事例をご紹介します

【測定法】質量分析法
【測定法】光電子分光法
【測定法】電子顕微鏡観察・分析
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【測定法】X線回折関連
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MSTが出展した展示会の資料

31～35 件を表示／全 35 件

表示件数

【分析事例】STEM・EDXと像シミュレーション結晶構造評価

STEM像と原子組成の測定結果から結晶構造の評価ができます

最終更新日 2025年03月13日
【分析事例】撥水箇所の成分分析

TOF-SIMSは複数成分の広域イメージング評価が可能です

最終更新日 2025年03月13日
【分析事例】深紫外LED中Mgの深さ方向濃度分析

様々なAl組成のAlGaN中不純物の定量が可能です

最終更新日 2025年03月13日
信頼性試験の一覧

信頼性試験（Reliability Test）

最終更新日 2025年03月12日
【分析事例】STEM、EBSD像シミュレーション多結晶体構造解析

像シミュレーションを併用した結晶形の評価

最終更新日 2025年03月13日

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