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OBF STEM法とは （最適明視野走査透過電子顕微鏡法）
OBF STEM：Optimum Bright-Field STEM法
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超臨界流体クロマトグラフィー質量分析法
超臨界流体クロマトグラフィーは移動相に超臨界CO2を用い、試料中に含まれている成分を分離し、質量検出器で検出する手法です。
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点群データの活用支援
多様な点群データに対して、構造理解を起点としたオーダーメイド解析を行います。
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ホームページリニューアルのお知らせ
より見やすく、使いやすいホームページへ
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【クライオSEM分析】液体中微粒子の分散状態を評価
急冷凍＋SEM観察により、粒子が分散している様子を画像で確認！ ★第25回インターフェックスジャパンでデータ展示★
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【分析事例】有機EL材料TOF-SIMSのRGB素子深さ方向分析
雰囲気制御下でのGCIB（Arクラスター）を用いた有機EL層構造・劣化層の評価
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【有機EL解析に最適】TOF-SIMS新分析サービス開始
有機成分を壊さず深さ方向分析が可能になりました！ 従来より空間分解能も向上し、狭い領域でも評価いたします。
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【分析事例】IGZO薄膜の結晶性・膜密度評価
酸化物半導体のXRD・XRR分析事例
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研究開発を強力サポート 「受託分析サービス」
お客様からお預かりした材料・製品の受託分析を行います。前処理から測定までをお引き受けし、分析データをご提供。
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［IC］イオンクロマトグラフ法
イオンクロマトグラフ法は液体試料中のイオン成分を検出する手法です
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［GDMS］グロー放電質量分析法
特定の質量イオンを解離・フラグメント化させ、質量分析計で検出
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［XAFS］X線吸収微細構造
XAFSは、物質にX線を照射することで得られる吸収スペクトルを解析する手法です
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［Slice&View］三次元SEM観察法
FIBでの断面出し加工とSEMによる観察を細かく繰り返し、取得した像を再構築することで立体的な構造情報を得ることができます
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［TEM-EDX］エネルギー分散型X線分光法（TEM）
EDXは、分析対象領域に電子線照射した際に発生する特性X線の、エネルギーと発生回数を計測し、元素分析や組成分析を行う手法です。
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［ED］電子回折法
EDは、電子線を試料に照射することで得られた回折パターンから結晶構造を調べる手法です
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[SMM]走査型マイクロ波顕微鏡法
Scanning Microwave Microscopy
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［SRA］広がり抵抗測定法
SRA：Spreading Resistance Analysis
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[OBIRCH]光ビーム加熱抵抗変動法
OBIRCHは、光を当てることによって発生する欠陥箇所の熱により、抵抗が変化することを利用して、異常箇所の特定を行う手法です
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ロックイン発熱解析法
ロックイン発熱解析法は、電流経路中の僅かな温度上昇を検出します
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［DSC］示差走査熱量測定
DSCは、加熱することによって生じる熱量変化からサンプルの物性などを評価することができます
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［XRF］蛍光X線分析法
照射X線により発生する蛍光X線を検出し、エネルギーや分光結晶で分光することによって、元素分析や組成分析を行う手法です
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［RBS］ラザフォード後方散乱分析法
固体試料にイオンビームを照射し、ラザフォード散乱によって後方に散乱されてくるイオンのエネルギーおよび強度を測定する手法です
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［TOC］全有機体炭素測定
TOC計は、試料中の全炭素量 、全有機体炭素量、無機体炭素量（IC：を評価することができる装置です
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Arイオンミリング加工
機械研磨を行った後低加速Arイオンビームで仕上げ加工を行うことで厚さ50nm以下の透過電子顕微鏡用の薄膜試料を作製する加工法です
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ウルトラミクロトーム加工
ダイヤモンドナイフを用いてバルク試料を切削し、厚さ100nm以下の透過電子顕微鏡用の超薄切片を作製する加工法です
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【分析事例】プリント基板上有機物系異物の分析（C0084）
適切なサンプリングと顕微測定で異物周辺情報の影響を軽減
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【分析事例】劣化の激しい有機材料の状態評価
雰囲気制御下でのサンプリングで材料の正確な評価が可能です
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【分析事例】歯のエナメル小柱の断面観察
FIB加工技術を応用し、エナメル質／接着材界面の全景を観察
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【分析事例】液体中微粒子の構造・分散具合評価
クライオSEMを用いた液体状試料の断面構造観察
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【分析事例】多結晶シリコン太陽電池のPLマッピング
太陽電池セルの欠陥の位置を非破壊で特定することができます
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