［AFM］原子間力顕微鏡法

ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測

最終更新日 2016年10月21日

走査型マイクロ波顕微鏡法_SMM

Scanning Microwave Microscopy

最終更新日 2023年05月17日

［SSRM］走査型広がり抵抗顕微鏡法

ナノメートルレベルでの局所抵抗測定が可能

最終更新日 2023年04月14日

［SRA］広がり抵抗測定法

SRA：Spreading Resistance Analysis

最終更新日 2023年03月27日

［SCM］［SNDM］

キャリア分布を二次元的に可視化

最終更新日 2019年03月20日

【MFM】磁気力顕微鏡法

MFMは、磁性膜でコートされたプローブを用いて、サンプル表面近傍に生じている漏洩磁場を測定し、磁気情報を得る測定手法です。

最終更新日 2019年10月25日

【分析事例】液晶ディスプレイの劣化分析

液晶、配向膜、シール材、TFTなどを総合的に評価します。

最終更新日 2022年11月18日

nanoTAによる局所熱特性評価

局所熱分析システム（Nanoscale Thermal Analysis ）

最終更新日 2023年03月29日

【分析事例】加熱・冷却過程における経時変化のAFM動画観察

サンプル表面の形状変化をin situで評価

最終更新日 2023年04月14日

【事例】ノーマリーオフ型GaN HEMT 二次元電子ガス層評価

製品調査の複合解析をワンストップでご提案可能です

最終更新日 2023年11月30日

【分析事例】GaN基板の表面形状分析

AFMによるステップ-テラス構造の可視化

最終更新日 2024年04月25日