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[SRA]広がり抵抗測定法

SRA:Spreading Resistance Analysis

SRAは測定試料を斜め研磨し、その研磨面に2探針を接触させ、広がり抵抗を測定する手法です。 SRP(Spreading Resistance Profiling)とも呼ばれます。 ・ 導電型(p型/n型)の判定が可能 ・ 深さ方向のキャリア濃度分布の評価が可能 ・ 濃度約1E12~2E20 /cm3の広範囲のキャリア濃度の分析が可能 ・ 約20μm×100μm以上の大きさのパターン試料の測定が可能 ・ SRAとSIMSを組み合わせて評価を行う事で活性化率の評価が可能

MST HP

基本情報

斜め研磨した試料面に2探針を接触させ、直下の電気抵抗を測定します。 校正用標準試料の測定値と比較する事で、測定した拡がり抵抗を比抵抗(Ω・cm)に換算します。 さらに、比抵抗とキャリア濃度の関係を示すThurberの曲線を用いてキャリア濃度(/cm3)を算出します。 なお、キャリア濃度と比抵抗には以下の関係があります。

価格情報

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納期

用途/実績例

・イオン注入サンプルの熱処理後の活性化率の評価 ・MOSデバイスの拡散層、エピタキシャル層の評価 ・エピタキシャル層のオートドープの評価 ・IGBT,FWDのキャリア濃度分布の評価

詳細情報

取り扱い会社

MSTは受託分析サービスをご提供する財団法人です。 TEM・SIMS・XRDなど、さまざまな分析装置を保有し、分析ニーズに応えます。 知識豊富な営業担当が、適切な分析プランをご提案。貴社に伺ってのご相談も、もちろん可能です。 ISO9001・ISO27001取得。 製品開発・不良原因の解明・特許調査はぜひご相談ください! MSTは、あなたの「困った!」を解決へと導きます。

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