[SRA]広がり抵抗測定法
SRA:Spreading Resistance Analysis
基本情報
斜め研磨した試料面に2探針を接触させ、直下の電気抵抗を測定します。 校正用標準試料の測定値と比較する事で、測定した拡がり抵抗を比抵抗(Ω・cm)に換算します。 さらに、比抵抗とキャリア濃度の関係を示すThurberの曲線を用いてキャリア濃度(/cm3)を算出します。 なお、キャリア濃度と比抵抗には以下の関係があります。
価格情報
-
納期
用途/実績例
・イオン注入サンプルの熱処理後の活性化率の評価 ・MOSデバイスの拡散層、エピタキシャル層の評価 ・エピタキシャル層のオートドープの評価 ・IGBT,FWDのキャリア濃度分布の評価
詳細情報
-
まずはご相談ください ★分析プランのご提案から行います★ 御社へ伺ってのお打ち合わせも、もちろん可能。 分析結果のご説明も丁寧に行い、疑問を残しません。 まずは03-3749-2525またはinfo@mst.or.jpまでご連絡ください!
-
訪問セミナー実施します ★お客様のニーズに合わせた技術者訪問のセミナーを無料で承っております★ お客様のご要望に応じて、分析技術のご紹介や分析データのご説明をいたします。 ◆セミナー内容例 ・MSTの分析手法を広く解説 ・特定の分析手法を原理からじっくり、詳しく解説 ・お客様がご依頼の分析データを解説 03-3749-2525またはinfo@mst.or.jpまでご連絡ください!
取り扱い会社
MSTは受託分析サービスをご提供する財団法人です。 TEM・SIMS・XRDなど、さまざまな分析装置を保有し、分析ニーズに応えます。 知識豊富な営業担当が、適切な分析プランをご提案。貴社に伺ってのご相談も、もちろん可能です。 ISO9001・ISO27001取得。 製品開発・不良原因の解明・特許調査はぜひご相談ください! MSTは、あなたの「困った!」を解決へと導きます。