【測定法】故障解析
【測定法】故障解析
◆[EMS]エミッション顕微鏡法 ◆[OBIRCH]光ビーム加熱抵抗変動法 ◆ロックイン発熱解析法
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EMS分析(エミッション顕微鏡法)
故障箇所を迅速に特定
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OBIRCH分析(光ビーム加熱抵抗変動法)
OBIRCHは、光を当てることによって発生する欠陥箇所の熱により、抵抗が変化することを利用して、異常箇所の特定を行う手法です
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ロックイン発熱解析法
ロックイン発熱解析法は、電流経路中の僅かな温度上昇を検出します
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[C-SAM]超音波顕微鏡法
C-SAMは、試料の内部にある剥離などの欠陥を非破壊で観察する手法です。
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[SXES]軟X線発光分光法
SXESは、物質から発光される軟X線を用いて化学結合状態を評価する手法です。
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X線CT法
X-ray Computed Tomography
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EV関連分析事例
分析でEV開発のEVolutionを!
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