【分析事例】照明
【分析事例】照明
照明の分析事例をご紹介します
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【分析事例】照明用発光素子の総合評価
LEDの解体から蛍光体・LEDチップなど各材料の分析まで行います
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【分析事例】劣化の激しい有機材料の状態評価
雰囲気制御下でのサンプリングで材料の正確な評価が可能です
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【分析事例】有機EL素子積層膜の膜密度・膜厚測定
X線反射率測定（XRR）で膜厚・密度の分析が非破壊で可能です
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【分析事例】有機EL素子の成分分析
Slope面出し加工された有機多層構造試料のTOF-SIMS成分分析
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【分析事例】SIMSによるGaN系LED構造の組成分析
GaN系LEDの主成分元素の組成を深さ方向に評価可能
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【分析事例】化合物積層構造試料のSIMS分析
前処理により化合物層を選択的に除去してから分析が可能
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【分析事例】GCIBを用いた有機材料劣化成分の深さ方向分析
雰囲気制御下でのGCIBを用いた有機EL層構造および劣化層の成分評価
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【分析事例】UVセンサ AlGaN中不純物濃度の高精度評価
様々なAl組成のAlGaN標準試料をラインアップ
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【分析事例】マイクロサンプリング法
FIB：集束イオンビーム加工
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【分析事例】有機EL材料(OLED)のRGB素子深さ方向分析
雰囲気制御下でのGCIB（Arクラスター）を用いた有機EL層構造・劣化層の評価
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【分析事例】MSDMによる有機ELデバイスの劣化解析
質量スペクトルを可視化することで、より高精度な解析が可能です
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【分析事例】MSDMについて
TOF-SIMS：飛行時間型二次イオン質量分析法
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【分析事例】MSDMによる有機ELデバイスの評価
質量スペクトルを可視化することで、より高精度な解析が可能です
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【分析事例】電子回折の種類と特徴
TEM：透過電子顕微鏡法
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【分析事例】有機膜材料の配向角評価
XAFS：X線吸収微細構造
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【分析事例】ケミカルシフトによる金属酸化物の価数評価
XPS：X線光電子分光法
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【分析事例】XPSによるGaN膜の組成・結合状態評価
目的に合わせた測定条件で評価を行います
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【分析事例】低温フォトルミネッセンス測定の注意事項
PL：フォトルミネッセンス法
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【分析事例】マイクロサンプリングツールを用いた異物分析
下地・基板の影響なく異物の成分を同定します
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【分析事例】定量計算における妨害ピーク除去処理
XPS：Ｘ線光電子分光法
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【分析事例】SIMSによる化合物半導体の組成分析
化合物半導体の主成分元素の組成を深さ方向に評価可能
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【分析事例】GaN系LED構造中MgのSSDP-SIMS分析
裏面側からGaN系LED構造中の不純物プロファイルを取得可能
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【分析事例】SiC基板の品質評価
結晶方位・面内欠陥分布・表面凹凸・不純物を評価
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【分析事例】GaN系LED構造中不純物の深さ方向濃度分析
目的に応じた分析条件で測定します
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【分析事例】テクスチャ付きGaN系LEDの元素分布評価
凹凸のある構造でも平坦化加工により深さ方向分布評価が可能
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【分析事例】Si基板へのAl,Gaの拡散評価
SSDP-SIMSによる高濃度層の影響を避けた測定
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【分析事例】特殊形状試料のSIMS測定
固定方法の工夫により特殊な形状でも分析可能
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【分析事例】白色LEDのフォトルミネッセンス分析
白色LED中のチップ、蛍光体の発光特性の確認
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【分析事例】ポリイミド成分の深さ方向分析
TOF-SIMSによる高分子・樹脂・フィルムの表面改質層の深さ方向の評価が可能
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【分析事例】GC/MSを用いた発生ガス分析及び高分子材料の同定
熱分解GC/MSの原理とアプリケーションについて
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