【分析事例】製造装置・部品
【分析事例】製造装置・部品
製造装置・部品の分析事例をご紹介します
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【分析事例】部品表面のシミ・水はじきの原因調査
切断できない大きな部品でも表面汚染を適切にサンプリングして測定
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【分析事例】熱分解GCMSによる空気中高温加熱時の発生ガス分析
酸素存在下での熱分解挙動の追跡が可能
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【分析事例】ステンレス不動態皮膜の深さ方向状態評価と酸化膜厚評価
TOF-SIMSで無機物の分子情報を深さ方向に捉えることが可能
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【分析事例】ステンレス不動態皮膜の深さ方向状態評価
波形解析・Arスパッタによる結合状態の深さ方向分布評価
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【分析事例】白色粉体の複合分析
FT-IR分析とXRF分析による粉体の同定
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【分析事例】ノズル表面・内壁の組成評価
凹凸サンプルの組成分布評価が可能です
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【分析事例】樹脂のアウトガス（脱ガス）分析
接着剤加熱時に発生する腐食性ガスの分析
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【分析事例】ハートカットEGA法による発生ガス分析
GC/MS：ガスクロマトグラフィー質量分析法
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【分析事例】室内雰囲気中の腐食成分分析
インピンジャー捕集法による大気中イオン成分の分析が可能です
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【分析事例】樹脂中に存在している異物の評価
試料の断面加工によりTOF-SIMSで樹脂中異物の評価が可能
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【分析事例】表面酸化膜のある異物の状態評価
水酸化アルミニウムAl(OH)3と酸化アルミニウムAl2O3の評価が可能です
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【分析事例】試料濃縮針による揮発性成分の濃縮分析
GC/MS：ガスクロマトグラフィー質量分析法
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【分析事例】ウエハ最表面の微量元素分析における前処理法
ICP-MS：誘導結合プラズマ質量分析法
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【分析事例】粉体異物の定性分析
手法を組み合わせることで、複数種類の成分情報を得ることが可能です
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【分析事例】溶解再沈法による高分子材料の添加剤評価
LC/MS・LC/MS/MSによる成分の定性
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【分析事例】高分子材料の添加剤評価
LC/MSによる成分の定性
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【分析事例】揮発性有機化合物（VOC）P&Tによる微量成分の検出
GC/MS：ガスクロマトグラフィー質量分析法
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【分析事例】電子回折の種類と特徴
TEM：透過電子顕微鏡法
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【分析事例】ケミカルシフトによる金属酸化物の価数評価
XPS：X線光電子分光法
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【分析事例】ウエットエッチングによる有機付着物除去
表面汚染を除去してXPSによる評価を行います
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【分析事例】XPSによるDLCの評価
C1s波形解析を使用したsp2/(sp2+sp3)比の評価
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【分析事例】DLC膜のsp2/(sp2+sp3)比高精度定量化
XAFSによる高精度解析
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【分析事例】薄いカーボン膜の深さ方向分析
ダイヤモンドライクカーボン(DLC)やグラフェンの深さ方向分析が可能
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【分析事例】マイクロサンプリングツールを用いた異物分析
下地・基板の影響なく異物の成分を同定します
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【分析事例】IC法によるSi含有溶液中のTMAH分析事例
IC（イオンクロマトグラフ）法でアミン類の測定が可能です
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【分析事例】アクリル樹脂の定性
TOF-SIMS分析による成分の推定が可能です
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【分析事例】液体中の陰イオン濃度分析
IC：イオンクロマトグラフィー
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【分析事例】定量計算における妨害ピーク除去処理
XPS：Ｘ線光電子分光法
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【分析事例】高分子フィルムの多層構造の解析
GCIBを用いた低ダメージスパッタリングで多層フィルムの層構造を明瞭に可視化
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【分析事例】XPS多点測定による広域定量マッピング
最大70×70mm領域の組成分布評価
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