【分析事例】ディスプレイ
【分析事例】ディスプレイ
ディスプレイの分析事例をご紹介します
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【分析事例】液晶パネルの異物・汚れ成分の同定・推定
ミクロンからセンチオーダーの異物・汚れをイメージとして捉えます
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【分析事例】Si酸化膜・ITO膜中の「水」の評価
｢重水(D2O)処理」を用いた水素の深さ方向分析
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【分析事例】高純度雰囲気下での前処理・測定
XPS：X線光電子分光法など
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【分析事例】化合物積層構造試料のSIMS分析
前処理により化合物層を選択的に除去してから分析が可能
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【分析事例】GCIBを用いた有機材料劣化成分の深さ方向分析
雰囲気制御下でのGCIBを用いた有機EL層構造および劣化層の成分評価
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【分析事例】白色粉体の複合分析
FT-IR分析とXRF分析による粉体の同定
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【分析事例】劣化の激しい有機材料の状態評価
雰囲気制御下でのサンプリングで材料の正確な評価が可能です
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【分析事例】有機EL素子積層膜の膜密度・膜厚測定
X線反射率測定（XRR）で膜厚・密度の分析が非破壊で可能です
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【分析事例】有機EL素子の電極/有機層界面の状態評価
不活性ガス雰囲気下で前処理からXPS測定まで行います
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【分析事例】有機EL素子Alq3層/発光層界面の評価
TOF-SIMS深さ方向分析による劣化評価
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【分析事例】顔料・色素の分散の観察
TOF-SIMSによるミクロンオーダーのイメージ測定
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【分析事例】有機EL素子中不純物の深さ方向分析
有機EL素子を深さ方向分解能よく評価
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【分析事例】有機EL素子の劣化評価
雰囲気制御下での切削により加工による変質を抑制
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【分析事例】有機EL発光層の成分分析
雰囲気を保ったまま解体・前処理から装置導入まで可能
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【分析事例】有機EL素子の層構造評価
N2雰囲気下での切削加工で酸化劣化を防止
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【分析事例】有機EL素子の層構造評価
雰囲気制御下で前処理を行うことで酸化劣化を防いだ分析が可能です
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【分析事例】TFT配線交差部の深さ方向分析
微小領域・ガラス基板についてもSSDPによる分析が可能
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【分析事例】XAFSによるシリコン酸化膜評価
シリコン周囲の局所構造解析、中間酸化物の定量、バルク・界面の評価
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【分析事例】MSDMによる有機ELデバイスの劣化解析
質量スペクトルを可視化することで、より高精度な解析が可能です
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【分析事例】MSDMについて
TOF-SIMS：飛行時間型二次イオン質量分析法
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【分析事例】MSDMによる有機ELデバイスの評価
質量スペクトルを可視化することで、より高精度な解析が可能です
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【分析事例】電子回折の種類と特徴
TEM：透過電子顕微鏡法
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【分析事例】有機膜材料の配向角評価
XAFS：X線吸収微細構造
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【分析事例】ケミカルシフトによる金属酸化物の価数評価
XPS：X線光電子分光法
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【分析事例】薄膜表面処理後の仕事関数評価
ITO表面プラズマ処理後のUPS分析
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【分析事例】XPSによるGaN膜の組成・結合状態評価
目的に合わせた測定条件で評価を行います
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【分析事例】低温フォトルミネッセンス測定の注意事項
PL：フォトルミネッセンス法
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【分析事例】銅(Cu)表面自然酸化膜の層構造・膜厚評価
TOF-SIMSによる深さ方向の状態評価
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【分析事例】銅(Cu)の酸化膜厚評価 保管環境による違い
TOF-SIMSで無機物の分子情報を深さ方向に捉えることが可能
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【分析事例】マイクロサンプリングツールを用いた異物分析
下地・基板の影響なく異物の成分を同定します
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