【分析事例】太陽電池
【分析事例】太陽電池
各種分析手法を用いて分析を行った事例をご紹介します
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【分析事例】CIGS薄膜太陽電池の結晶粒と抵抗評価
同一箇所における抵抗分布と結晶粒・結晶粒界評価
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【分析事例】CIGS薄膜太陽電池バッファ層界面の観察
超高分解能STEMによるZn(S、 O、 OH)/CIGS接合界面の結晶構造評価
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【分析事例】有機薄膜太陽電池電極界面の状態、有機膜の分散状態評価
雰囲気の影響を最小限に抑えた総合的な評価解析が可能です
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【分析事例】TEM・SEM有機EL・ゲート酸化膜の断面観察
低加速STEM観察により、低密度な膜でもコントラストがつきます
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【分析事例】X線によるZn系バッファ層の複合評価
組成・結合状態・構造・密度の評価が可能
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【分析事例】ポリカーボネート表面の劣化評価
TOF-SIMSを用いた樹脂表面の劣化による構造解析
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【分析事例】IC法によるSi含有溶液中のTMAH分析事例
IC（イオンクロマトグラフ）法でアミン類の測定が可能です
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【分析事例】ポリカーボネートの劣化層の評価
GCIB（Arクラスター）を用いることで劣化層の膜厚を評価することが可能
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低温フォトルミネッセンス測定の注意事項
PL：フォトルミネッセンス法
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【分析事例】薄膜表面処理後の仕事関数評価
ITO表面プラズマ処理後のUPS分析
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ケミカルシフトによる金属酸化物の価数評価
XPS：X線光電子分光法
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有機膜材料の配向角評価
XAFS：X線吸収微細構造
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電子回折の種類と特徴
TEM：透過電子顕微鏡法
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【分析事例】イオン注入アニール処理後Si低温PLスペクトル
照射欠陥やアニールによる結晶性の回復を確認することが可能です
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【分析事例】XAFSによるシリコン酸化膜評価
シリコン周囲の局所構造解析、中間酸化物の定量、バルク・界面の評価
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【分析事例】CIGS薄膜太陽電池特定結晶粒の評価
任意断面のEBIC測定で特徴があった箇所の直交断面観察
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【分析事例】有機薄膜太陽電池活性層の混合状態評価
低加速STEM観察とEELS測定による有機材料の分布状態評価
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【分析事例】CIGS薄膜太陽電池へテロ接合界面の観察
超高分解能STEMによるCdS/CIGS接合界面高抵抗層の結晶構造評価
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【分析事例】CIGS太陽電池へテロ接合界面の抵抗評価
真空下での走査型広がり抵抗顕微鏡（SSRM）による局所抵抗分布評価
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【分析事例】有機薄膜太陽電池の活性層の組成分布評価
雰囲気制御下での前処理および深さ方向分析が可能です
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【分析事例】顔料・色素の分散の観察
TOF-SIMSによるミクロンオーダーのイメージ測定
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【分析事例】Si系太陽電池のBSF層の評価
断面イメージングSIMSにより面内分布のある不純物評価が可能
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【分析事例】CIGS膜のpn接合評価および結晶粒評価
SEMによる電子線誘起電流法・結晶方位解析
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【分析事例】SIMSによるCIGS太陽電池の各層の相互拡散評価
表面の凹凸の影響を受けない高精度な測定が可能です
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【分析事例】CIGS膜の結晶粒評価
SEMによる結晶方位解析
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【分析事例】有機薄膜太陽電池の断面観察
低加速電圧のSTEMを用いると有機膜のわずかな密度の違いが観えます
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【分析事例】SIMSによるZnO膜の組成・不純物の分布評価
イメージングSIMS分析により面内分布を可視化
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【分析事例】有機ＥＬ素子の成分分析
Slope面出し加工された有機多層構造試料のTOF-SIMS成分分析
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SEM装置での歪み評価
EBSD：電子後方散乱回折法
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マイクロサンプリング法
FIB：集束イオンビーム加工
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