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【分析事例】SEM装置での歪み評価

EBSD:電子後方散乱回折法

TEM(NBD:Nano Beam Diffraction)のような薄片化加工を行うことなく、バルク状態での測定が可能です。 SEM特有の高い空間分解能を持ち、比較的高い歪み感度を持っています。 また、局所的な格子歪みをテンソルデータとして検出できる可能性があります。

関連リンク - http://www.mst.or.jp/

基本情報

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価格情報

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納期

用途/実績例

結晶構造評価・応力・歪み評価

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