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【分析事例】ラマンマッピングによる応力評価

試料断面における応力分布を確認することが可能です

単結晶Siのラマンスペクトルのピークは、試料に圧縮応力が働いている場合は高波数シフト、引張応力が働いている場合は低波数シフトします。これにより、Siの応力に関する知見を得ることができます。 IGBT(絶縁ゲートバイポーラトランジスタ)の断面について、ラマンマッピングで応力の分布を確認した例を示します。

関連リンク - https://www.mst.or.jp/casestudy/c0522/

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LSI・メモリ・パワーデバイス・太陽電池の分析です

【分析事例】ラマンマッピングによる応力評価_C0522

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