【分析事例】ディスプレイ
【分析事例】ディスプレイ
ディスプレイの分析事例をご紹介します
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低温フォトルミネッセンス測定の注意事項
PL：フォトルミネッセンス法
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【分析事例】XPSによるGaN膜の組成・結合状態評価
目的に合わせた測定条件で評価を行います
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【分析事例】薄膜表面処理後の仕事関数評価
ITO表面プラズマ処理後のUPS分析
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ケミカルシフトによる金属酸化物の価数評価
XPS：X線光電子分光法
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有機膜材料の配向角評価
XAFS：X線吸収微細構造
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電子回折の種類と特徴
TEM：透過電子顕微鏡法
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【分析事例】MSDMによる有機ELデバイスの評価
質量スペクトルを可視化することで、より高精度な解析が可能です
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MSDMについて
TOF-SIMS：飛行時間型二次イオン質量分析法
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【分析事例】MSDMによる有機ELデバイスの劣化解析
質量スペクトルを可視化することで、より高精度な解析が可能です
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【分析事例】XAFSによるシリコン酸化膜評価
シリコン周囲の局所構造解析、中間酸化物の定量、バルク・界面の評価
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【分析事例】有機EL材料TOF-SIMSのRGB素子深さ方向分析
雰囲気制御下でのGCIB（Arクラスター）を用いた有機EL層構造・劣化層の評価
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【分析事例】ガラス試料のTDS分析
赤外線が透過する透明な試料でも昇温脱離ガス分析が可能
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【分析事例】エポキシ樹脂の構造解析
熱分解GC/MS法によるLED封止材の構造解析
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【分析事例】有機フィルムの昇温脱離ガス分析（TDS）
真空環境下における有機物の脱ガス成分を評価可能
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【分析事例】SIMSによる石英・ガラス中の「水」の評価
｢重水（D2O）処理」を用いた水素の深さ方向分析
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【分析事例】TEMによる多元系金属微粒子の結晶構造観察
InGaZnO4粒子の超高分解能STEM観察
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【分析事例】二酸化ケイ素の構造解析
非晶質（ガラス）二酸化ケイ素（SiO2）のラマン散乱分光法による構造解析
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代表的な材料・目的別のTDS解析例
TDS：昇温脱離ガス分析法
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GPCによる分子量分布測定
HPLC：高速液体クロマトグラフ法
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【分析事例】有機EL（OLED）の材料構造評価
1画素ごと、各層ごとに成分を同定することが可能です
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【分析事例】液中AFM測定を用いた基板上の高分子の形状変化観察
大気中・水溶液中での試料構造変化の可視化
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界面および深さ方向分解能について
SIMS：二次イオン質量分析法
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クリーンルーム内有機化合物の評価方法
GC/MS：ガスクロマトグラフィー質量分析法
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【分析事例】グラフェンの官能基の評価
熱分解GC/MS法によりグラフェンの官能基の評価が可能
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【分析事例】スマートフォン用保護フィルムのAFM分析
感覚的な製品の出来映えを定量評価可能
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【分析事例】TDSによるグラフェン粉末の脱ガス分析
炭素材料中の官能基や不純物などに起因する脱ガスについて評価可能です
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【分析事例】真空中での有機成分の脱離評価
複合解析により特定の有機成分の脱離について温度依存性評価が可能です
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【分析事例】液晶ディスプレイの劣化分析
液晶、配向膜、シール材、TFTなどを総合的に評価します。
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【分析事例】カーボンナノチューブの曲げ変形シミュレーション
ナノ材料に外力を加えた時の形状変化、歪みエネルギーの評価が可能
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【分析事例】撥水箇所の成分分析
TOF-SIMSは複数成分の広域イメージング評価が可能です
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