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【分析事例】MSDMについて

TOF-SIMS:飛行時間型二次イオン質量分析法

TOF-SIMSの深さ方向分析では平面上の位置情報(x,y)を無視すると、各深さ(z)で質量スペクトルが存在するため、深さ・質量・スペクトル強度の3次元データが得られます。この3次元データを1枚の画像として可視化したものが、MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)表示です。

関連リンク - http://www.mst.or.jp/

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照明・ディスプレイの分析です

【分析事例】MSDM(Mass Spectra Depth Mapping)について

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