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TCC(急速温度変化)試験

試料温度制御と空気温度制御による温度サイクル試験が可能

・試料温度基準で最大15℃/minの温度勾配制御が可能 ・JESD22-A104E、IEC60749-25の規格試験に対応 ・試料温度ランプレート15℃/分以下(-40~125℃)の規格試験を、正確に行うことが可能

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基本情報

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価格帯

納期

用途/実績例

・自動車規格試験 ・半導体パッケージや半導体デバイスの信頼性評価 ・はんだ接合部の寿命評価

取り扱い会社

MSTは受託分析サービスをご提供する財団法人です。 TEM・SIMS・XRDなど、さまざまな分析装置を保有し、分析ニーズに応えます。 知識豊富な営業担当が、適切な分析プランをご提案。貴社に伺ってのご相談も、もちろん可能です。 ISO9001・ISO27001取得。 製品開発・不良原因の解明・特許調査はぜひご相談ください! MSTは、あなたの「困った!」を解決へと導きます。

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