X線CT法
X-ray Computed Tomography
試料にX線を照射することで、試料内部構造の二次元透過像を取得します。また、試料を回転させた連続撮影データから、X線CT（Computed Tomography）像を構築します。 ・非破壊で、試料の内部構造や欠陥形状などの確認が可能。 ・3D像や任意箇所での断面像を構築可能。 ・有機材料から電子部品まで、幅広い対象に合わせてX線エネルギーの設定が可能。 ・専用ステージにより、引張/圧縮や冷却/加温した状態で試料のX線CT測定が可能。 この資料では、適用例や原理、データ例などを紹介しています。 詳しくはお問い合わせください。
基本情報
限界空間分解能： 0.5 μm （試料サイズ、測定視野により空間分解能は変動します） 最大撮像範囲： φ520 mm × H 650 mm 搭載可能サンプル： 最大φ400 mm×H1500 mm、重量30kg程度 管電圧： 30 kV ～450 kV 冷却/加温範囲： -20 ℃ ～160 ℃ （試料台表面の温度となります） 引張/加圧負荷： ～5 kN その他： 各種解析（繊維配向解析、肉厚解析、空隙率解析など） 詳しくはお問い合わせください。
価格帯
納期
用途／実績例
• リチウムイオン電池の内部構造観察、クラック・異物の調査 • 半導体パッケージ品など電子部品の形状評価、欠陥調査 • 炭素繊維強化プラスチック（CFRP)の形状・サイズ・繊維配向評価 • アルミ溶接部分のボイドや異物の有無調査 • ウレタン材中の空隙形状・サイズ評価 • カプセル剤中の顆粒形状・サイズ・充填率評価 • 化粧品内部の微細構造観察、フィラーの分散確認 • 透過像から、断面加工位置の特定など物理解析箇所の確認 • 製品の出来栄え評価 詳しくはお問い合わせください。
詳細情報
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