［SXES］軟X線発光分光法
SXESは、物質から発光される軟X線を用いて化学結合状態を評価する手法です。
基本情報
発光を生じさせるための励起源としてエネルギー可変、高強度などの特長を持った放射光を用います。
価格情報
測定対象によって価格が変動しますので、お気軽にお問い合わせください。
納期
用途／実績例
・希薄磁性半導体Ga1-xCrxN中のギャップ内準位評価 ・HOPG（高配向性熱分解グラファイト）中の微量ホウ素の局所構造解析 ・酸化物半導体中の微量軽元素の化学結合状態評価 ・各種薄膜試料のバンド構造評価（XASとの複合解析）
詳細情報
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取り扱い会社
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