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[AFM-IR]AFM赤外分光分析

赤外分光法は、分子の振動による赤外線吸収を測定することで、分子構造の情報を得る手法です。

本手法はAFMシステムと連動し計測を行う事で、試料の凹凸および機械特性分布、選択された吸収帯 での赤外吸光像(官能基分布)を同時計測することが可能です。 AFM-IRは以下の特徴があります。 • 非常に高い空間分解能(ナノスケールオーダー)での評価が可能なため 微小領域でのスペクトル測定・イメージ測定が可能 • FT-IRのライブラリーを使用することで同様の解析が可能

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基本情報

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用途/実績例

• ポリマーブレンドブロック共重合体 • 多層フィルム • ナノファイバー • 高分子ナノコンポジット材料 • 欠陥・異物分析

取り扱い会社

MSTは受託分析サービスをご提供する財団法人です。 TEM・SIMS・XRDなど、さまざまな分析装置を保有し、分析ニーズに応えます。 知識豊富な営業担当が、適切な分析プランをご提案。貴社に伺ってのご相談も、もちろん可能です。 ISO9001・ISO27001取得。 製品開発・不良原因の解明・特許調査はぜひご相談ください! MSTは、あなたの「困った!」を解決へと導きます。

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