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【分析事例】におい成分の一斉分析
ガスクロマトグラフィー質量分析器を用いたにおい成分の同定
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【分析事例】ノニルフェノール（NP）の分析
容器貸し出しから分析結果までトータルでサポートします！
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【分析事例】IGZO薄膜のXAFSによる局所構造解析
酸化物半導体中、金属元素の価数・配位数・構造秩序性の評価
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【分析事例】IGZO膜中H濃度評価
IGZO膜中Hについて、高感度で深さ方向分布の評価が可能
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【分析事例】IGZO膜へのTi拡散評価
SSDP-SIMSによる高濃度層の影響を避けた測定
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【分析事例】IGZO膜の局所結晶構造解析
電子回折で結晶性・配向性を連続的に評価
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【分析事例】IGZO膜の化学状態評価
XPS・UPSを用いた結合状態・電子状態評価
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クライオSEMについて
クライオ加工冷却SEM： 走査電子顕微鏡法
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【分析事例】クライオFIB-SEM加工食品中エマルションの観察
構造を維持したまま水分・油分の分散状態を観察
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【分析事例】LIB正極材料の電子構造及び局所構造解析
XAFS解析による正極材料の価数・配位数・原子間距離の評価
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半導体のイオン化ポテンシャル評価
UPS：紫外光電子分光法
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透過EBSD法による30nm以下の結晶粒解析
EBSD：電子後方散乱回折法
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定量計算における妨害ピーク除去処理
XPS：Ｘ線光電子分光法
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液体中の陰イオン濃度分析
IC：イオンクロマトグラフィー
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【分析事例】水素注入サンプルのSRA/SIMS評価事例
ライフタイム制御サンプルのキャリア濃度分析事例紹介
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【分析事例】ウエハ表面の微小異物分析
加工無しで30nmサイズの組成分析が可能
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【分析事例】AES分析による積層試料の割断面評価
割断サンプルで50nm薄膜を可視化
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【分析事例】磁気ヘッドMTJ部の構造評価
Csコレクタ付TEMによる高分解能TEM観察
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【分析事例】微細トランジスタの構造評価
Csコレクタ付TEMによる高分解能TEM観察
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【分析事例】CIGS薄膜太陽電池の原子レベル構造分析
Csコレクタ付STEMによる原子レベル分解能EDX分析
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【分析事例】遊離アミノ酸17成分の一斉分析
OPAポストカラム法により高感度かつ選択的なアミノ酸分析が可能
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【分析事例】アルコール飲料中遊離アミノ酸の定量分析
OPAポストカラム法により遊離アミノ酸17成分の定量分析が可能
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【分析事例】ビタミンＣのLC/MS/MS分析
D、L-アスコルビン酸、デヒドロアスコルビン酸の一斉分析
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【分析事例】杜仲茶に含まれるポリフェノールの一斉分析
健康食品中有効成分の検出事例
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【分析事例】きのこに含まれるエルゴチオネインの比較定量分析
機能性成分の定量分析事例
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【分析事例】金属材料の蛍光X線分析事例
金属組成評価として、始めにXRF分析での元素スクリーニングをお勧めします
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【分析事例】アクリル樹脂の定性
TOF-SIMS分析による成分の推定が可能です
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SRAの深さ換算について
SRA：広がり抵抗測定法
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SRAの濃度換算について
SRA：広がり抵抗測定法
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RAE検出器を用いた大口径イメージングSIMS
SIMS：二次イオン質量分析法
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