すべての製品・サービス
1～20 件を表示 ／ 全 20 件
-
解析支援ツール『Pulse EYE(パルスアイ)』
知りたい特性結果を瞬時に解析R＆Dから量産検査に！他社製テストデータの解析も可能
最終更新日
-
TDAS-Series＜性能試験/耐久試験＞
超高速36,000rpm対応！カメラや各種センサーも接続でき時間軸同期ロギングが可能
最終更新日
-
IGBT/SiC パワーモジュール検査装置『NATSシリーズ』
低LS 4.5nH！ニデックアドバンステクノロジーの検査装置をご紹介
最終更新日
-
ウエハバンプ自動検査システム『RWi-300MK3』
金バンプ3D検査に好適！3D/2D/SDの同時測定を高速・高精度に実現
最終更新日
-
2D/3D検査装置『RSH Series』
高密度基板対応！お客様の用途に合わせた多彩なラインアップをご用意
最終更新日
-
3D計測装置『NSAT Series』
ガラスコア対応可能な技術力と信頼！高速・高精度3次元計測装置
最終更新日
-
NS Probe＜プリント基板＆半導体パッケージ基板検査＞
MEMSプロセスを用いた微細化・先端形状の多様化を実現したプローブ！
最終更新日
-
高精度検査用治具
微小抵抗を測定する4端子治具！ファインな導体＆電極パッドに対応
最終更新日
-
導通/絶縁検査テスタ『RZ-1207』
フラットケーブル対応！自動メカ、手動メカ、卓上メカ等を搭載
最終更新日
-
AC/DC MULTI TESTER『R-700シリーズ』
微小容量検査高分解能！薄膜RFフィルタ/加速度センサなど様々な製品を検査可能
最終更新日
-
高速OPEN/LEAKテスタ『R-5940』
ICマルチファンクション検査対応！自社開発によるLCRメーター搭載
最終更新日
-
高速S＆R式電気検査装置『STAR REC M6V SW』
HDI/PCB基板向け！高速/高精度対応モデルの製品をご紹介いたします
最終更新日
-
プリント基板自動検査装置『STAR REC V5III』
両面アライメント機構付！微細化するプリント基板の検査にも対応
最終更新日
-
大型HDI基板向け導通絶縁検査装置『GATS-8350』
総合アライメント精度は±5.0μm！上下最大ポイント数64K対応
最終更新日
-
半導体パッケージ向け高速・高精度検査装置『GATS-7862』
LULはご要望仕様に合わせたご提案が可能！多様なオートメーション要求に対応
最終更新日
-
半導体パッケージ向け高速・高精度検査装置『GATS-7836』
総合アライメント精度±2.5μm！大型個片/クォーターパネルの検査装置
最終更新日
-
半導体パッケージ向け高速・高精度検査装置『GATS-7760』
ダブルテーブル/シャトル式！FC-CSP/大型個片基板向けの検査装置
最終更新日
-
パワーモジュール検査装置『NSAT Series』
ワイドバンドギャップな計測技術！最大144UPHの高スループット検査を実現
最終更新日
-
ガラス基板対応3D計測装置『NSAT Series』
先進基板対応、高速・高精度3次元計測装置！深さ5μm、Line Space 2/2対応
最終更新日
-
超ファインピッチに対応する検査用プローブ！『MEMSプローブ』
≪超ファインピッチに対応する検査用プローブ≫微細加工から検査までの自動生産システム
最終更新日