プリント基板自動検査装置『STAR REC V5III』

両面アライメント機構付！微細化するプリント基板の検査にも対応

最終更新日 2026年04月10日

NS Probe＜プリント基板＆半導体パッケージ基板検査＞

MEMSプロセスを用いた微細化・先端形状の多様化を実現したプローブ！

最終更新日 2026年04月10日