プリント基板自動検査装置『STAR REC V5III』

両面アライメント機構付！微細化するプリント基板の検査にも対応

最終更新日 2026年04月10日

プリント基板＆半導体パッケージ基板検査　プローブPROBE

MEMSプロセスを用いた微細化・先端形状の多様化を実現したプローブ！

最終更新日 2026年07月08日

導通検査装置「STAR REC V6」

大型／多ピン基板向け導通絶縁検査装置

最終更新日 2026年07月08日

自動搬送機「EFEM Series」

Equipment Front End Moduleフルパネルサイズ対応自動搬送機

最終更新日 2026年07月08日