大型HDI基板向け導通絶縁検査装置GATS
高密度・多ピン検査に対応。大型HDI基板やインターポーザ向けの高精度導通絶縁検査を実現します。
『GATS-7885／8360A』は、インターポーザおよび大型HDI基板向けに開発された高精度導通絶縁検査装置です。フルパネル対応の高精度検査に加え、高密度・多ピン検査やLCR検査にも対応し、次世代半導体パッケージや高機能基板の品質保証を強力にサポートします。 GATS-7885は、最大24Kポイント対応の専用治具を搭載し、25μmピッチの小径パッドプローブにも対応。パッドレイアウトに合わせた最適な治具設計を提案可能です。さらに、総合アライメント精度±3.5μmを実現し、高精度な検査を安定して行えます。 GATS-8360Aは、大型HDI向けの高精度検査装置として、上側32Kp・下側64Kpの最大96Kp検査に対応。多様な自動化システム提案にも対応し、生産性向上と省人化を支援します。高精度・高効率な検査環境を求める製造現場に最適なソリューションです。
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当社の検査対象分野は、プリント基板や半導体パッケージ、ディスプレイパネルなど。IT化の進展でますます成長する情報通信機器や普及著しいデジタル家電のコア部品です。プリント基板・半導体パッケージ・ディスプレイパネルは、目を見張るようなスピードで進化し、検査においてもより高精度な技術が求められます。当社は最先端の技術が要求されるこれらの検査分野において高いシェアを占め、「デファクト・スタンダード（業界標準）」と認知されるような製品を数多く世界中に送り出しています。