【資料】製造現場の大粒子汚染
大粒子による汚染の場合、ISOでのクリーンルームの清浄度がワーク表面の清浄度を担保しているとは限りません。
当資料は、製造現場での大粒子汚染について紹介しています。 大粒子はクリーンルームでの基礎要件となる微小粒子の拡散方程式からは外れます。 粒子の質量（大きさ、密度）による特質（沈降速度・飛行曲線）、出現頻度の高低 など0.3umや0.5umをターゲットにする場合とは違う要素があります。 また、パーティクルカウンタ自体の性質を知ることが、よりよい情報を得るための ノウハウとなります。 製造現場の大粒子汚染についてお困りの際に活用ください。 【掲載内容】パーティクルカウンタによる大粒子測定の問題点と提案 ■環境クリーンレベルは出ているのに何故表面が汚染されるの？ ■粒子の大きさによる特質（振る舞い）を知る ■参考：重力沈降データ ■大粒子の特性をまとめると ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 モデル8506-30 ハンドヘルド（0.5um～30.0um以上） 7501-30 バッテリー内蔵ベンチトップ（0.5um～30.0um以上） 5501P-30 リモート（0.5um～30.0um以上） 9501P-30 超小型、多粒径30段階タイプ（0.5um～30.0um以上）
価格帯
50万円 ~ 100万円
納期
~ 1ヶ月
用途／実績例
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 クリーンルームから高濃度環境まで、製造工程から、室内、大気環境まで様々な実例があります。 ご相談下さい。
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取り扱い会社
＜たかがパーティクルカウンタ、されどパーティクルカウンタ＞ 株式会社パーティクルプラスは、先進のセンサをベースに、豊富な機能を備えたパーティクルカウンタと大気質監視計装を設計および製造しています。 清浄環境を必要とする生産現場、生活の場、例えばライフサイエンス、食品および飲料、医薬品、室内空気質、大気環境、産業衛生、化粧品、半導体、航空宇宙、およびデータストレージ業界に技術、知見やサービスを提供します。 当社は、先端の技術をベースとするユニークなパーティクルセンサ、カウンタ、知見をご提供することで皆様が時代を先取りできるようお手伝いさせていただいています。