断面イオンミリング装置を用いた断面試料の作製

試料を樹脂に埋めず水を使用しないことで、水分に弱い試料でも断面作製できます！

最終更新日 2025年03月11日

耐静電気試験：ユニット/デバイス

静電気が電子機器や半導体部品に放電した際の耐性を、様々なモデル法を用いて幅広く評価します

最終更新日 2025年03月18日

減圧電気特性試験

供試品を試験槽内の設置し、槽内気圧は製品規格の規定の圧力まで減圧！

最終更新日 2025年03月24日

ポッティングはずし

基板に施されたポッティング樹脂を、最小限のダメージで除去が可能です！

最終更新日 2025年04月01日

赤外線サーモグラフィカメラ

高速現像を撮影可能なフレームレート！ハイコントラストで高精細な熱画像を取得できます

最終更新日 2025年04月15日