欠陥とは？半導体・電子部品テストの基礎知識資料進呈
【特性評価テストとその他テストとの違いとは？】半導体・電子部品テストの基礎知識解説資料を無料進呈中！
欠陥とは、デバイス（電子機器や回路）が通常とは違う動作をしてしまう原因となる問題のことです。 簡単に言うと、デバイスが意図した通りに動かない原因になる「不具合」や「エラー」です。 欠陥は、デバイスに何らかの刺激（入力）が加えられて、期待通りの結果が得られない場合に識別されます。 つまり、何かをテストしてみたときに、「こうなるはずなのに、違う結果になった」という状況が欠陥の検出です。 現在『半導体・電子部品テストの基礎知識解説資料』を無料進呈中です。 欠陥モデルや残存欠陥など、その他基礎知識に関しても分かり易く解説をしておりますので ぜひご確認ください。 【資料掲載内容（一部抜粋）】 ■ICコンポーネントテストとは何か？ ■不良デバイスとは何か？ ■欠陥とは何か？ ■欠陥モデルとは何か？ ※『半導体・電子部品テストの基礎知識解説資料』はPDFダウンロードボタンよりご確認ください！
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