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【分級技術】　分級後　オン品粒子を画像解析　『要注意 粗粒子』

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【分級技術】　分級後　オン品粒子を画像解析　『要注意 粗粒子』

湿式分級装置 S-100W-Dによる　分級精度を確認　　分級後 篩上に補足したオン品粒子径を画像解析

■ 粒径分布で表示しない微量の 【隠れ粗粒子】 の把握は粒子製造で 　 極めて重要ある ■ 【隠れ粗粒子】 は下記の様な場所からの混入が想定される 　 ・ 分級装置から同一材料の粗粒子・結合粒子‥等の混入 　 ・ 分級装置周辺からの別材料粗粒子が混入　　工程管理 　 ・ 製造工程の不特定場所場所からダスト等‥の混入 ■ Φ５μｍスーパーマイクロシーブ取付け　分級後のオン品を解析 　 個数レベルで粗粒子は確実に補足されている 　 高精度分級をしてない場合 添付資料上段のような粗粒子が製品に 　 混在してる可能性が考えられる　　最大粗粒子は φ10.8μｍ

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6-3〇 S-100W-D 分級後　オン品　画像解析

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