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【TTL】『基板最終外観検査』その微細欠陥、TY-VISIONで検査してみませんか? M111SCは光学分解能2.5μmで約10μmの欠陥もズバリ検出!

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その微細欠陥、TY-VISIONで検査してみませんか? M111SCは光学分解能2.5μmで約10μmの欠陥もズバリ検出! 微細欠陥の検出でお困りではないですか? ⇒現在ご使用中の最終外観検査機で検出していますか?【YES・NO】  ⇒その時、虚報は少ないですか?【YES・NO】 一つでもNOなら、TY-VISIONをお試しください。 パッケージ基板・セラミックス基板・FPCなどでトップクラスの検出性能を誇ります。 また、量産工程でも多数採用されており AIシステムのXAIS(ザイス)を追加することで劇的な虚報数低減を実現しています。 適時、デモ検査を承っておりますので、是非ご相談ください。 ※最初に基板の情報をご提供頂き実施する場合にデータと対象物をお預かりします。

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基板最終外観検査装置『TY-VISION M111SC』【高分解能:2.5μm/3μm】

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