ご来場御礼 電子機器トータルソリューション展2024
電子機器トータルソリューション展2024 / JISSO PROTEC 2024 ご来場ありがとうございました。
基本情報
開催展名 JISSO PROTEC 2024(第25回実装プロセステクノロジー展) 会期 2024年6月12日(水)~6月14日(金) 午前10時~午後5時 会場 東京ビッグサイト 東展示棟 出展対象製品 ■電子部品実装機および関連機器・システム:電子部品装着機(マウンタ)、電子部品挿入機 (インサータ)、クリームはんだ印刷機、はんだ付け装置(リフローオーブン)、ディスペンサ ■実装関連機器・システム:搬送システム、AGV、自動倉庫、テーピングマシン・材料、バルクフィーダ・その他フィーダ、自動組立装置、レーザーマーキング装置、洗浄装置・洗浄剤 ■半導体実装機・システム:ボンディング装置、フリップチップ実装システム、COBシステム ■産業用ロボット:ハンドリングロボット、組立ロボット、搬送ロボット、AMR ■検査・試験装置:基板外観検査装置 半導体製造関連検査・測定装置 ■実装設計システム:設計ツール生産最適化ソフトウェア、実装プログラミング装置 ■実装デバイス・部品および関連材料 ■実装デバイス包装材 ■実装接合システム・はんだ/接合材料 ■高周波対応装置・部品・材料
価格帯
納期
型番・ブランド名
JPCA Show 2024
用途/実績例
出展内容 デュアルサイドフライングプローブテスタ APT-1600FD-A 基板上面/下面 両ポイントへの同時コンタクト検査可能 スピード/位置決め精度 世界最高水準 インラインシステム ローダー/アンローダー/反転機等との接続による全自動無人検査でオペレータの負担削減・省人化に貢献 マルチプローブシステム BST(JTAGバウンダリスキャンテスト)など、外部機器と接続した特殊検査や FPGA等のIC書き込み/ログ読み出しを行うことが可能 OPC-UA規格対応、MES連携 機器の種類/OS/メーカーなどの垣根を越え、 セキュリティが確保された信頼性の高いデータ交換が可能 アプリケーションソフト ODB++データ変換 基板設計のCADデータ(ODB++形式)より 直接 部品/ネット情報を抽出、 検査プログラムへダイレクト変換 JTAGバウンダリスキャンテストとの連携(JPCA賞受賞) フライングプローブテスタとJTAGバウンダリスキャンテストを連携
関連動画
カタログ(10)
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「基板の窓口」様の取材を受けました。
2024/7/12~14の3日間、東京ビッグサイトで開催されました 「電子機器トータルソリューション展2024(JPCA show 2024)」に タカヤ株式会社 産業機器事業部が出展しました。 会期中、実装基板情報サイト「基板の窓口」より取材頂き、 その様子が、基板の窓口Youtubeチャンネルで公開されております。 ぜひご覧ください。
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深層強化学習を用いたフライングプローブテスタの検査高速化レポート【愛媛大学様との共同研究】
タカヤ株式会社は、愛媛大学 大学院 理工学研究科様と、『深層強化学習を用いたフライングプローブテスタの検査高速化』に関する共同研究を行っております。 このたび、2024年6月12日(水)~6月14日(金) 東京ビッグサイトにて開催されました展示会 「JPCA Show 2024 / 2024 マイクロエレクトロニクスショー」 愛媛大学様ブースにて、当研究のレポートを掲示・ご紹介いただきました。また、6月14日(金)には、会場内にて本件に関するセミナー発表を行っていただきました。 当日、ご来場いただけなかった方のために、当研究のレポートを本ページでも公開致します。下記関連カタログのページからアクセス可能です。 皆様、この機会に是非ご覧ください。
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「電子機器トータルソリューション展2024(JPCA Show 2024) / JISSO PROTEC 2024」 ご来場ありがとうございました。
2024年6月12日(水) ~ 14日(金) 東京ビッグサイト「電子機器トータルソリューション展2024 / JISSO PROTEC 2024」タカヤ株式会社ブースにご来場頂いた皆様 ありがとうございました。 展示内容に関するご質問・ご相談などございましたら、お気軽にお問い合わせください。 また、会場に展示しておりました説明パネルをイプロスにて公開しておりますので、是非こちらもご覧ください。
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第20回「JPCA賞(アワード)」受賞のお知らせ
タカヤ株式会社(本社:岡山県井原市井原町、代表取締役社長:岡本 龍二)は、「JTAG検査とフライングプローブテスタを組み合わせたハイブリッド検査システム」で、第20回「JPCA賞(アワード)」(以下、「本アワード」)を受賞しました。 今回 弊社受賞の「JTAG検査とフライングプローブテスタを組み合わせたハイブリッド検査システム」では、フライングプローブテスタとJTAGバウンダリスキャンテストを連携し、それぞれの検査手法の相互補完によって、高密度実装基板のテストカバレッジを最大限拡大でき、より正確な故障診断を可能とする新たなシステムを紹介しています。 本アワード受賞に関する紹介パネルが、6月12日(水)~ 6月14日(金)東京ビッグサイトにて開催される「JPCA Show 2024(電子機器トータルソリューション展 2024)」内にて展示されます。同展示会には弊社も展示ブースを出展し、フライングプローブテスタの実機を展示致します。合わせて、ぜひご覧ください。