【無料セミナー】高精度断面SEM観察サービスのご紹介
ユーロフィンFQL株式会社
断面SEM観察は、スルーホールのクラックやはんだバンプ内部のボイドなど、外観観察だけでは確認できない内部不良を可視化し、品質改善や故障解析における根本原因の特定に有効な分析手法です。 弊社では、長年にわたり電子部品の観察・解析を通じて蓄積してきた豊富な知見とノウハウを活かし、高品質な断面加工技術を提供しており、多くのお客様から高い評価をいただいております。 本ウェビナーでは、弊社が保有する各種断面加工技術や、その技術を活用した実際の評価事例をご紹介いたします。 品質課題の解決や解析精度向上のヒントとして、ぜひご参加ください。 【プログラム】 ■ 当社保有の断面加工手法とその特徴 ・機械研磨 ・CP（クロスセクションポリッシャ） ・FIB ■ 実際の断面SEMによる断面評価事例 ・DDR4メモリの断面評価
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開催日時 2026年10月28日（水）
15:00 ～ 16:00
- 参加費 無料 お申し込み後に参加用のメールが届きます。メールが届かない場合は迷惑メールに振り分けられてる可能性がありますのでご確認ください。
