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【半導体向け】ヘリウムリークテストシステム HES-2000

半導体製造における気密性検査をサポートします。

半導体業界では、製品の品質と信頼性を確保するために、高い気密性が求められます。微細なリークは製品の性能低下や寿命に影響を与える可能性があるため、正確なリーク検査が不可欠です。当社のヘリウムリークテストシステムは、高精度な測定により、半導体製品の品質向上に貢献します。 【活用シーン】 ・半導体製造工程における気密検査 ・各種半導体デバイスのリーク検査 【導入の効果】 ・製品の品質向上 ・不良品の削減 ・信頼性の高い製品供給

関連リンク - https://fukuda-jp.com/products/helium-leak-test-sy…

基本情報

【特長】 ・様々なワーク、スペックに対応 ・ワーク形状のチャンバにより高精度・高速測定 ・希釈ヘリウムガスも対応可 ・ヘリウムガス回収増圧ユニットあり(オプション) 【当社の強み】 漏れ検出を追求して60年の実績と、エアリークテスト、ガスリークテスト(水素ガス ・ ヘリウムガス)など各種漏れ試験への対応力があります。お客様のニーズに合わせた最適なリークテスターをご提案します。

価格帯

納期

型番・ブランド名

ヘリウムリークディテクター ヘリウムリークテスター

用途/実績例

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

ヘリウムリークテストシステム『HES-2000 series』

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取り扱い会社

【 各種漏れ試験に対応:エアリークテスト / ガスリークテスト(水素ガス ・ ヘリウムガス) 】 気密性・密封性を検査するための漏れ試験機器を開発・製造・販売しています 検査対象ごとに適切なテスター・装置をご提案いたします 【 対象業界と検査対象例 】 ・自動車業界:エンジン、FC部品、バルブ・配管、各種部品 ・電子部品業界:スマートフォン、キーレススイッチ、各種小型センサ ・医薬品 / 食品 / 化粧品業界:ボトル容器、シリンジ、バイアル、点眼剤容器、ピロー包装、PTP包装 業界別に最適なリークテスターをご提案いたします 【 ISO認証 】JIS Q 9001:2015(ISO 9001:2015) 本社住所:東京都練馬区貫井三丁目16番5号(〒176-0021) 電話番号:03-3577-1111(代表)