小型電子部品専用リークテストシステム

小型電子部品専用リークテストシステム
水晶デバイス、セラミック発振子、光デバイス、パワー半導体、CANデバイス、レーザーダイオード、MEMSデバイス、SAWフィルタ、小型リレー、コンデンサなど、気密性が求められる小型電子部品のリークテストを行う装置です。密封された製品のリークテストは、グロスリークテストとファインリークテストの2種類の検査を行う必要があります。全行程を一台で行える全自動機や専用機(特注)、抜取り検査に便利な卓上タイプをラインアップしております。
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ボンビンググロスファインリークテストシステム|MSX-7000
超小型パッケージ 1.0 × 0.8 mm、1.2 × 1.0 mm に対応した気密検査装置です
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小型電子部品専用リークテストシステム|MS series
全自動機、専用機、卓上タイプをラインアップ! 小型電子部品専用気密検査装置をご紹介します
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ボンビンググロスファインリークテストシステム|MSX-0101
ボンビングによる充填、圧力変化確認によるグロスリーク、質量分析によるファインリーク、これらが1台で完結する複合気密検査装置です。
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卓上式グロスリークテストシステム|MSA-0101 series
PFASフリー! フッ素系不活性液を使用する液没検査をやめて、圧力漏れ試験法による気密検査に移行しませんか?
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ボンビンググロスファインリークテストシステム|MSX-7003
LED, 光デバイス, 高周波デバイス, パワー半導体, IRセンサ などの比較的大きな電子デバイス品が対象の全自動気密検査装置
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カスタム製品(お客様のご要望に沿ったリークテスト装置を製作)
株式会社フクダでは、テスター単体の販売だけでなくお客様のご要望、仕様に沿ったリークテスト装置を製作いたします。
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