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  パワーデバイスのHAST試験

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  2023年01月12日

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  角型Liイオン電池の構造解析

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  2023年01月12日

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  ウィスカ観察

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  2023年02月16日

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  異物分析のための試料加工技術

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  ミクロトームによる断面作製

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  【観察事例】トグルスイッチのX線観察

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  デジタルマイクロスコープによる外観観察

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  【イメージングFT-IRによる有機多層膜の分析】多層フィルム

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  【イメージングFT-IRによる有機多層膜の分析】アルミ

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  イオンクロマト分析

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  【SEMによる破断面観察】カニカン

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  Liイオン電池セパレータの解析

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  FT-IR分析のための液体異物サンプリング技術

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  FT-IRによる樹脂硬化度の測定

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  【保有設備】FIB（Focused Ion Beam)

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  EPMA分析

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  EPMAによる微量元素の検出

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  EPMAによる状態分析

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  【EBSDによる解析例】カニカン

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  CCDカメラモジュールの断面加工観察

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  【不良解析事例】ACアダプターのX線観察

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  Φ8インチIC・MEMSファウンドリーサービス開始

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  【資料】EBSDによるウイスカ解析

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  【資料】イオンクロマトによる低分子有機酸の分析事例

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  発光解析のための半導体の裏面研磨

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  LEDの故障解析

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  【資料】化学反応機構研究所 異種材料界面剥離メカニズム1

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  超微⼩硬度計による材料評価

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  EBSDによる解析例（セラミック）

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  顕微ラマンによる無機化合物の分析

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