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  FT-IR分析のための液体異物サンプリング技術

  技術資料・事例集

  2023年01月12日

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  FT-IRによる樹脂硬化度の測定

  技術資料・事例集

  2023年01月12日

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  【保有設備】FIB（Focused Ion Beam)

  技術資料・事例集

  2023年01月12日

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  EPMA分析

  技術資料・事例集

  2023年01月12日

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  EPMAによる微量元素の検出

  技術資料・事例集

  2023年01月12日

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  EPMAによる状態分析

  技術資料・事例集

  2023年01月12日

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  【EBSDによる解析例】カニカン

  技術資料・事例集

  2023年01月12日

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  CCDカメラモジュールの断面加工観察

  技術資料・事例集

  2023年01月12日

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  【不良解析事例】ACアダプターのX線観察

  技術資料・事例集

  2023年01月12日

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  Φ8インチIC・MEMSファウンドリーサービス開始

  製品カタログ

  2023年01月12日

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  【資料】EBSDによるウイスカ解析

  その他資料

  2023年01月12日

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  【資料】イオンクロマトによる低分子有機酸の分析事例

  技術資料・事例集

  2023年01月12日

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  発光解析のための半導体の裏面研磨

  製品カタログ

  2023年01月12日

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  LEDの故障解析

  その他資料

  2023年01月12日

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  【資料】化学反応機構研究所 異種材料界面剥離メカニズム1

  その他資料

  2023年01月12日

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  超微⼩硬度計による材料評価

  その他資料

  2023年01月12日

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  EBSDによる解析例（セラミック）

  その他資料

  2023年01月12日

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  顕微ラマンによる無機化合物の分析

  製品カタログ

  2023年01月12日

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  顕微ラマンによる金属腐食の分析

  製品カタログ

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  【資料】化学反応機構研究所　材料変色原因解明事例

  その他資料

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  液晶パネルの不良解析

  製品カタログ

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  フレキシブル基板（FPC）のEBSD解析

  製品カタログ

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  パワー半導体の解析サービス

  製品カタログ

  2023年01月12日

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  ウィスカ評価

  製品カタログ

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  EBAC（吸収電流）法による不良箇所の絞込み

  製品カタログ

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  EELS分析手法による膜質評価

  製品カタログ

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  FIB-SEMによる半導体の拡散層観察

  製品カタログ

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  LCDパネル良品解析

  製品カタログ

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  LV-SEMとEBIC法によるSiC MOSFETの拡散層の観察

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  SiCデバイスの裏面発光解析

  製品カタログ

  2023年01月12日

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