日本製｜SWIRラインスキャンカメラ WAL-1001-GE
可視光では見えない欠陥を検出。12.5μm画素搭載の高速SWIRラインスキャンカメラ
『WAL-1001-GE』は、InGaAsセンサーを搭載した産業用SWIRラインスキャンカメラです。 900〜1700nmのSWIR波長域での撮像により、可視光では識別が困難な素材の組成・水分含有量・表面下の欠陥・黒色プラスチックなどを高コントラストで可視化します。 12.5 μm角の大型画素とピーク量子効率83%の高感度設計で、低照度環境や高速シャッター時でも鮮明な画像を取得。 最大14 bit（16,384階調）出力で、微細な輝度差も精密に識別できます。 【特長】 ■ SWIR帯域（900〜1700 nm）対応のInGaAsラインスキャンカメラ（1K） ■ 12.5 μm大型画素によりS/N比と低照度感度に優れた高画質を実現 ■ ピーク量子効率最大83%で高速シャッター・低照度環境でも画質を維持 ■ 最大ラインレート29 kHzの高速スキャン（GigE Vision） ■ 8〜14 bit出力（最大16,384階調）で微細な差異を高精細に表現 ※詳細な分光感度特性や寸法図などはPDF資料をご参照ください。
基本情報
■主な仕様 ・ライン解像度：1K（1 × 1024ピクセル） ・ラインレート：29 kHz ・インターフェース：GigE Vision ・対応波長：短波長赤外（SWIR）900〜1700 nm ・センサ：InGaAs（シングルセンサ） ・画素サイズ：12.5 × 12.5 μm
価格情報
※詳細はお気軽にお問い合わせください。
納期
型番・ブランド名
Wave Series
用途／実績例
■ 食品の選別・品質管理 ・内部品質の非破壊検出：果物・野菜の打撲傷、熟度差、初期段階のカビをSWIR吸収特性で検出。外観は正常でも内部に異常のある農作物を自動排除。 ・水分量の可視化：水が特定のSWIR波長（1450nm付近）を強く吸収する性質を活かし、農作物の傷みや乾燥ムラを非破壊で検査。 ■ 半導体・ウェハ検査 ・内部欠陥の非破壊検出：SWIR光がシリコンを透過する性質を利用し、内部のクラックや表面下の損傷、ダイシング工程の欠陥を製造ライン上で高速検出。 ■ リサイクル・異物検査 ・素材識別・選別：高速コンベア上のプラスチック・紙・繊維を素材ごとに自動識別。可視光やNIRでは検出が困難な黒色プラスチックの分別にも対応。 ■ 製薬・包装検査 ・充填・封緘検査：ガラスやプラスチック容器内の充填レベルを非接触で確認。ヒートシールの気泡・密封不良を連続生産ライン上で検出。
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取り扱い会社
JAI（ジェイエイアイ）は産業用映像機器メーカーとして、マシンビジョン（各種工業製品の検査・計測）、医療、サイエンス、ITS（高度交通監視）をはじめとする幅広い分野に高性能CMOS/CCD カメラを供給する企業です。 VGA から 2000 万画素の超高解像度まで、エリアスキャンカメラ、ラインスキャンカメラを中心に幅広い製品を取り揃えています。 単板式だけでなく 独自のプリズムテクノロジーをベースに開発した多板式の革新的なカメラを提供しています。