日本製｜SWIRラインスキャンカメラ WAL-1001-GE
可視光では見えない欠陥を検出。12.5μm画素搭載の高速SWIRラインスキャンカメラ
『WAL-1001-GE』は、InGaAsセンサーを搭載した産業用SWIRラインスキャンカメラです。 900〜1700nmのSWIR波長域での撮像により、可視光では識別が困難な素材の組成・水分含有量・表面下の欠陥・黒色プラスチックなどを高コントラストで可視化します。 12.5 μm角の大型画素とピーク量子効率83%の高感度設計で、低照度環境や高速シャッター時でも鮮明な画像を取得。 最大14 bit（16,384階調）出力で、微細な輝度差も精密に識別できます。 【特長】 ■ SWIR帯域（900〜1700 nm）対応のInGaAsラインスキャンカメラ（1K） ■ 12.5 μm大型画素によりS/N比と低照度感度に優れた高画質を実現 ■ ピーク量子効率最大83%で高速シャッター・低照度環境でも画質を維持 ■ 最大ラインレート29 kHzの高速スキャン（GigE Vision） ■ 8〜14 bit出力（最大16,384階調）で微細な差異を高精細に表現 ※詳細な分光感度特性や寸法図などはPDF資料をご参照ください。
基本情報
■主な仕様 ・ライン解像度：1K（1 × 1024ピクセル） ・ラインレート：29 kHz ・インターフェース：GigE Vision ・対応波長：短波長赤外（SWIR）900〜1700 nm ・センサ：InGaAs（シングルセンサ） ・画素サイズ：12.5 × 12.5 μm
価格情報
※詳細はお気軽にお問い合わせください。
納期
型番・ブランド名
Wave Series
用途／実績例
■ 食品の選別・品質管理 ・内部品質の非破壊検出：果物・野菜の打撲傷、熟度差、初期段階のカビをSWIR吸収特性で検出。外観は正常でも内部に異常のある農作物を自動排除。 ・水分量の可視化：水が特定のSWIR波長（1450nm付近）を強く吸収する性質を活かし、農作物の傷みや乾燥ムラを非破壊で検査。 ■ 半導体・ウェハ検査 ・内部欠陥の非破壊検出：SWIR光がシリコンを透過する性質を利用し、内部のクラックや表面下の損傷、ダイシング工程の欠陥を製造ライン上で高速検出。 ■ リサイクル・異物検査 ・素材識別・選別：高速コンベア上のプラスチック・紙・繊維を素材ごとに自動識別。可視光やNIRでは検出が困難な黒色プラスチックの分別にも対応。 ■ 製薬・包装検査 ・充填・封緘検査：ガラスやプラスチック容器内の充填レベルを非接触で確認。ヒートシールの気泡・密封不良を連続生産ライン上で検出。
おすすめ製品
取り扱い会社
ジェイエイアイコーポレーション（JAI）は、マシンビジョン、輸送、食品・飲料、航空宇宙、医療、科学市場に向けた高品質な産業用カメラを製造する企業です。 製品は安心の日本国内製造であり、その高い信頼性と確かな品質で世界中のお客様から選ばれています。 ◾️幅広い製品展開： 最大45メガピクセルの高性能プログレッシブスキャンCMOSカメラを中心に、エリア／ラインスキャン対応の画期的なマルチセンサー・プリズムブロックカメラなどを豊富に取り揃えています。 ◾️多様なインターフェース： Camera Link、GigE Vision、CoaXPress、USB3 Vision等のデジタル規格に加え、SFP+光ファイバー伝送にも対応しています。 ◾️ビジネス発展の支援： コスト削減や歩留まり向上、サービス改善など、多角的なアプローチでお客様のビジネスの発展を強力に支援します。 ◾️特殊交通システム： トラフィックソリューショングループが事業を担う世界有数のメーカーとして、自社製ハード・ソフトウェアとサードパーティ製品を統合したソリューションを提供しています。