【フォトニックデバイス向け】自動光学検査装置
ウェーハおよびチップレベルでのデバイス検査を自動化します！
当社で提供している「自動光学検査装置(AOI)」について ご紹介いたします。 シリコンフォトニクスやフォトニック集積回路(PIC)デバイスの欠陥を 高精度に検出するシステムです。 機械学習アルゴリズムを活用し、ウェーハおよびチップレベルでの フォトニックデバイス検査を自動化します。 【特長】 ■高精度検査 ■自動検査機能 ■柔軟な検査対応 ■多様な観察モード ■検出可能欠陥 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
基本情報
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価格帯
納期
用途／実績例
【アプリケーション例】 ■シリコンフォトニクス(SiPh)デバイス検査 ■フォトニック集積回路(PIC)製造工程検査 ■光トランシーバおよび光通信デバイス検査 ■TFLN(薄膜LiNbO3)フォトニクスデバイス検査 ■III-Vフォトニックデバイス検査 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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日本レーザーは1968年の創業より、レーザー専門商社の草分けとして、お客様に支えられながら、レーザー技術の進歩と共に歩んで来た日本で最古・最大のレーザー及び光関連製品の専門企業です。 従業員数の1割強をエンジニアに割いており、技術色の強みを持つ商社です。 米・英・独・仏・スイス・デンマーク・リトアニアなど世界各国の優れたレーザー製品、光関連製品を提供いたしております。各国のトップクラスのメーカーと代理店契約を締結しており、現在の海外取引先数は約50社になります。また当社は、世界より集めたレーザー関連機器を独自に組み上げ、応用システムとして販売提供が可能です。商社でありながらファブレスメーカー的なサービスも提供可能です。お客様の要求に感謝の気持ちを持って、常に柔軟でアグレッシブなソリューションを提供してまいります。