レビュー機能付きウェハ表面欠陥検査装置
レビュー用顕微鏡搭載!検出した欠陥を顕微鏡でリアルタイムに観察可能です
基本情報
【検出】 方 式: レーザー散乱方式および正反射方式 検出サイズ: PSL50nm相当の欠陥 【レビュー機能】 顕 微 鏡: レーザー顕微鏡(レーザー共焦点・白色干渉) or 微分干渉顕微鏡 【対象基板】 種 類: 透明体を含む各種基板 サ イ ズ: 2~12inch、形状など別途相談に応じます 【装置サイズ】 外形寸法 : W1,800 x D2,100 x H1,985 (mm) 質 量: 約1200kg
価格情報
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納期
型番・ブランド名
K-LE-G200
用途/実績例
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