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レビュー機能付きウェハ表面欠陥検査装置

レビュー用顕微鏡搭載!検出した欠陥を顕微鏡でリアルタイムに観察可能です

高出力レーザーを回転ステージ上のウェハに照射することで、 高速に全面を検査し、微小欠陥を検出します。 散乱、反射、位相シフトなど複数チャンネルの組合せによって 用途に適した欠陥検出ができ、凹凸など欠陥種ごとに弁別します。 ■装置の特長 ・高速検査(約181秒/12inch) ・レビュー用顕微鏡を搭載 ・顕微鏡はレーザー顕微鏡/微分干渉顕微鏡のどちらか選択可能 ・SEM等での分析用に顕微鏡を利用した高精度なケガキが可能 ・オプションでエッジ検査機能の搭載が可能

関連リンク - https://scale.kubota.co.jp/product_category/%e8%a8…

基本情報

【検出】 方   式: レーザー散乱方式および正反射方式 検出サイズ: PSL50nm相当の欠陥 【レビュー機能】 顕 微 鏡: レーザー顕微鏡(レーザー共焦点・白色干渉) or 微分干渉顕微鏡 【対象基板】 種   類: 透明体を含む各種基板 サ イ ズ: 2~12inch、形状など別途相談に応じます 【装置サイズ】 外形寸法 : W1,800 x D2,100 x H1,985 (mm) 質   量: 約1200kg

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納期

型番・ブランド名

K-LE-G200

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レビュー機能付きウェハ表面欠陥検査装置(レーザー式)_K-LE-G200

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取り扱い会社

クボタは、人類の生存に欠かすことのできない食料・水・環境に関わる課題解決を通じて、豊かな社会と自然の循環を支えてきました。 クボタ精密機器事業ユニットおよびクボタ計装では「計量・計測技術」を基軸に、様々な産業で求められる、自動化・省力化、高精度での計測・制御、データ処理などのソリューションを提供し、社会の発展に貢献しています。

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