ウェハ表面欠陥検査装置(画像式)
透明素材にも対応する高精度検査装置
基本情報
【検出】 方 式: 微分干渉顕微鏡を用いた画像解析方式 検出サイズ: 0.3um(対物レンズ10倍使用時) 【対象基板】 種 類: 透明体を含む各種基板 サ イ ズ: 4inch 、6inch、8inch、別途相談に応じます 【装置サイズ】 外形寸法 : W1,700 x D1,000 x H1,935 (mm) 質 量: 約800kg
価格情報
詳しくはお問い合わせください
納期
型番・ブランド名
K-IM-G100
用途/実績例
詳しくはお問い合わせください