ウェハ外観検査装置（画像式）
ウェハの欠陥目視検査を自動化を実現
基本情報
【検出可能な最小欠陥】 30um 【対象形状】 円形：直径200mm以下 矩形：140mm□以下 ※上記以上のサイズを測定されたい場合、ご相談ください。 【検査時間】 100PPH
価格情報
詳しくはお問い合わせください
納期
型番・ブランド名
K-VI-G100
用途／実績例
詳しくはお問い合わせください
カタログ（1）
カタログをまとめてダウンロード
この製品に関するニュース（4）
-
【製品紹介】ハードディスク表面欠陥検査装置 Laser Explorer
ハードディスク表面のスクラッチ、ピットなどの微細な表面欠陥を検出 ハードディスク表面に高出力レーザーを照射することで、スクラッチ、ピットなどの微細な表面欠陥を検出し、欠陥種類ごとに分類、結果表示します。 複数レーザーの同時照射によりスクラッチを高感度で検出するだけでなく、欠陥の凹凸形状を判定します。 特長 ・高出力レーザーによる微小欠陥の検出 ・高いスクラッチ検出能力 ・欠陥の凹凸を弁別 ・全数オートフォーカス ・優れたコストパフォーマンス ・カスタマイズ対応 ・1カセット自動検査対応 ・透明ガラス基板対応
-
【製品紹介】管理の手間を削減！『ストランド異常検出装置』のご紹介
ストランド監視/異常検出装置が、CraftPatコンパウンドライン監視システムのオプションで新登場！ 押出機から成型されるストランドをサーモカメラで監視し、温度異常、切断、融着をリアルタイムに検出。 警報出力を行うことで、ライントラブルを最小限に抑えることが可能となります。 また「CraftPatコンパウンドライン全体監視システム」と連携することで、ストランド異常履歴、温度データに加え、 フィーダ、押出機、ペレタイザー等の運転データと一元管理ができるようになります。 製品グレードや材料、また運転方法による異常発生頻度や異常傾向解析に役立てることが可能となります。 【特長】 ■手間削減 ストランド管理や温度計測の為のライン巡回、手書き記録の必要がなくなり作業効率の改善に ■不良品削減 ストランド異常の早期発見が可能となり、生産ラインのダウンタイムと不良品の削減に貢献 ■品質向上 コンパウンドライン遠隔管理システムとの連携でデータの一元管理ができ、異常傾向解析や品質改善に
-
【製品情報】ウェーハ表面欠陥検査装置『Laser Explorer』
透明ウェーハも高速検査！高出力レーザーが微小な傷・パーティクルを検出！ 『Laser Explorer』は、透明ウェーハにも対応した、 最新型のウェーハ表面欠陥検査装置です。 高出力レーザーが、スクラッチ・ピット・パーティクルなどの微小欠陥を検出！ ウェーハの出荷・受入検査や、エピタキシャル工程の品質管理に活用いただけます！ 【その他の特長】 ■高スループット（1カセット25枚を、約40分で検査） ■欠陥の凹凸を弁別 ■全数オートフォーカス ■カスタマイズ対応 ■1カセット自動検査対応 ■欠陥に対する高精度マーキング（オプション） ■レーザー顕微鏡による欠陥レビュー（オプション）
-
【技術資料進呈】重量式フィーダ『NX-T12』
"供給があんていしない""画面操作がわかりづらい""分解掃除に時間がかる"など、 粉粒体の微量供給機に関するお悩みを、当社の微量フィーダ『NX-T12』が 解決します。 微小流量でも安定した供給精度。使いやすいユーザーインターフェースで 幅広い原料と流量範囲に対応します。 また、デモ機貸出・供給テストも対応し、当社では、性能試験データ掲載の 技術資料を進呈しております。 詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 【『NX-T12』の注目ポイント】 ■微小流量でも安定した供給精度 ■大型カラー画面＆簡単キー操作 ■特殊工具なしで容易に分解、清掃
