ウェハ表面欠陥検査装置(レーザー式)
高出力レーザーで微小欠陥を検出!
基本情報
【検出】 方 式: レーザー散乱方式および正反射方式 検出サイズ: PSL50nm(オプション追加で40nm)相当の欠陥 【対象基板】 種 類: 透明体を含む各種基板 サ イ ズ: 2~12inch、形状など別途相談に応じます 【装置サイズ(8インチ)】 外形寸法 : W1,790 x D1,340 x H2,000 (mm) 質 量: 約1200kg
価格帯
納期
型番・ブランド名
K-LE-G100
用途/実績例
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