【半導体製造向け】非接触 赤外線放射温度計『L-1000』
工程監視に。ダイレクト設定機能搭載、ガラス越し測定も可能な温度計。
半導体製造工程では、製品の品質を一定に保つために、各工程における温度管理が重要となります。特に、微細な回路やデリケートな素材を扱う場合、非接触で正確な温度測定が求められます。温度の変動は、歩留まりの低下や製品不良に直結する可能性があるため、迅速かつ的確な温度把握が不可欠です。当社の非接触赤外線放射温度計『L-1000』は、簡単操作でその瞬間の温度を設定値に登録できるダイレクト設定機能を搭載しており、煩雑な設定変更の手間を軽減します。これにより、製造ラインでの温度管理を容易にし、品質維持に貢献します。 【活用シーン】 ・製造ラインにおける各工程の温度監視 ・真空チャンバー内のワーク温度測定 ・高周波加熱時の温度管理 ・移動体の温度測定 【導入の効果】 ・工程温度の安定化による品質向上 ・不良品の発生抑制 ・生産効率の維持・向上
基本情報
【特長】 ■ガラス越しの温度計測が可能 ■測定温度140～3000℃をシリーズで測定可能 ■表示値を直接設定値に（ダイレクト設定）機能搭載 ■放射率（エミッタンス値）、アラームHi/Loを10パターンメモリー可能 ■製造ラインでの温度管理が容易なオートリセットピークホールドを採用 ■光ファイバー方式により、高周波やノイズに強い ■ターゲットビームランプに高輝度LEDを採用 ■外部出力：アナログ出力(4-20mA,0-10V)は標準装備 【当社の強み】 高品質高精度な計測機器を短納期・低価格で提供いたします。主力商品の放射温度計は高速応答で微小面積測定が出来、ガラス越しの測定も可能です。温度範囲も低温から高温まで広くて様々な用途に使えます。特に真空チャンバー内のワーク測定や高周波過熱、製造ラインを移動している物体の測定には最適です。安心のMade in Japanとアフターフォローも提供しております。
価格情報
センサーヘッド・光ファイバーの種類によって価格が異なりますのでお問合せ下さい。
納期
用途／実績例
用途：鋳造温度管理・高周波加熱温度測定・真空炉内温度測定・抵抗加熱温度測定など。 その他大学の実験で使用実績多数あり。 ※詳しくはカタログをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ※英語版カタログをダウンロードいただけます。
