EMC solution

電磁界測定および電磁波の可視化測定に対する要求は、LSI内部の微細領域の測定から、車輛など大きな機器の測定まであります。弊社では、それぞれの要求にあったスキャナを準備しています。LSI内部測定用、電子回路基板用、車輛測定用など、弊社開発の近磁界プローブや小型3軸センサー等の組み合わせで、様々な測定環境に対応した電磁波ノイズ計測の提案が可能です。