【分析事例】酸化物半導体
【分析事例】酸化物半導体
酸化物半導体の分析事例をご紹介します
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【分析事例】Sn酸化物に対する還元処理の検証
～XPSと計算シミュレーションの比較から～ 価電子帯スペクトルからの電子状態解析
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【分析事例】STEM・EDXと像シミュレーション結晶構造評価
STEM像と原子組成の測定結果から結晶構造の評価ができます
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【分析事例】ワイドギャップ半導体ドーパントサイト同定電子状態評価
ミクロな原子構造を計算シミュレーションによって評価可能
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リートベルト解析（Rietveld analysis）とは
XRD等の測定データの解析から結晶内原子配置等の詳細な情報が得られます
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固体分析 新サービス開始 （GDMS）
「多くの元素を感度よく測りたい!」というご要望にお応えします。 主成分から微量成分まで70元素以上の同時分析が可能です。
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【分析事例】GaNの部分状態密度測定
価電子帯・ギャップ内準位について元素別の情報が得られます
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【分析事例】薄膜・バルク・粉末材料の組成・不純物分析
CP-MSによるIGZOの主成分及び金属不純物元素の定量分析
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【分析事例】STEM、EBSD像シミュレーション多結晶体構造解析
像シミュレーションを併用した結晶形の評価
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【分析事例】XPSによるSn表面の状態評価
価数別（2価、4価）の割合を算出することが可能です
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