プリント基板＆半導体パッケージ基板検査　プローブPROBE

MEMSプロセスを用いた微細化・先端形状の多様化を実現したプローブ！

最終更新日 2026年07月08日

高精度検査用治具

微小抵抗を測定する4端子治具！ファインな導体＆電極パッドに対応

最終更新日 2026年04月10日

導通/絶縁検査テスタ『RZ-1207』

フラットケーブル対応！自動メカ、手動メカ、卓上メカ等を搭載

最終更新日 2026年04月10日

AC/DC MULTI TESTER『R-700シリーズ』

微小容量検査高分解能！薄膜RFフィルタ/加速度センサなど様々な製品を検査可能

最終更新日 2026年04月10日

高速OPEN/LEAKテスタ『R-5940』

ICマルチファンクション検査対応！自社開発によるLCRメーター搭載

最終更新日 2026年04月10日

プリント基板自動検査装置『STAR REC V5III』

両面アライメント機構付！微細化するプリント基板の検査にも対応

最終更新日 2026年04月10日

大型HDI基板向け導通絶縁検査装置『GATS-8350』

総合アライメント精度は±5.0μm！上下最大ポイント数64K対応

最終更新日 2026年04月10日

半導体パッケージ向け高速・高精度検査装置『GATS-7862』

LULはご要望仕様に合わせたご提案が可能！多様なオートメーション要求に対応

最終更新日 2026年04月10日

半導体パッケージ向け高速・高精度検査装置『GATS-7836』

総合アライメント精度±2.5μm！大型個片/クォーターパネルの検査装置

最終更新日 2026年04月10日

半導体パッケージ向け高速・高精度検査装置『GATS-7760』

ダブルテーブル/シャトル式！FC-CSP/大型個片基板向けの検査装置

最終更新日 2026年04月10日

パワーモジュール検査装置『NSAT Series』

ワイドバンドギャップな計測技術！最大144UPHの高スループット検査を実現

最終更新日 2026年04月10日

ガラス基板対応3D計測装置『NSAT Series』

先進基板対応、高速・高精度3次元計測装置！深さ5μm、Line Space 2/2対応

最終更新日 2026年04月10日