光干渉式の膜厚計について、測定がうまくいかない、干渉が見えているのに膜厚がうまく出ない、そもそも測定がうまくいっているかわからない、ということはありませんでしょうか？ 光干渉法の原理から測定例、よくある測定の質問、測定のコツなど光干渉法を原理とする膜厚測定装置をより良く使っていただく情報をご紹介致します。

近年、エクソソームを含む細胞外小胞は、バイオ医薬品の新たなターゲットとして急速に注目を集めています。これらのナノサイズの粒子は、細胞間の情報伝達において重要な役割を担い、多くの疾患の診断や治療への応用が期待されています。本セミナーでは、大塚電子の特長である生体模擬環境下でも測定可能な粒子径、粒子濃度、ゼータ電位の測定原理について解説します。さらに、エクソソームをはじめとする細胞外小胞、バイオ医薬品から生体適合性材料までの具体的な測定事例をご紹介します。

正しい粒子径測定を行うための基本操作とトラブルシューティングをご紹介します。 nanoSAQLAをお使い頂く中で「測定手順が少し不安。」「トラブル発生時にはどう対応したらいい？」 「購入後数年経過しているが装置は大丈夫なのかな？」などと思われることはありませんか？ 装置の基本操作からよくあるお問い合わせまでをご紹介します。 また前モデルにあたるFPARシリーズを使用中のお客様、装置の使用経験が無いお客様でもわかりやすい内容となっています。

このセミナーはゼータ電位を正しく測定する上で知っておきたい情報やノウハウをご紹介します。 さらに、ゼータ電位測定装置をより知っていただくために、測定原理やアプリケーション事例についてもご紹介します。 これからご使用いただく方やすでにご使用いただいている方はぜひご受講いただき、測定にご活用ください。

大塚電子のゼータ電位測定システム"ELSZシリーズ"では、溶液中のコロイド粒子のゼータ電位だけでなく、平板状やフィルム状サンプルのゼータ電位も測定することが可能です。 この測定により、平板サンプルの表面改質状態や、液中粒子との吸着特性なども評価することが可能です。 本セミナーでは、そのアプリケーションについてご紹介します。

高機能フィルムやガラスなどの透明材料やGa2O3やSiCの表面及び内部の欠陥・キズ・フィラーなどを対象に、これまでにない大塚電子独自の技術を搭載した光波動場三次元顕微鏡の概要と代表的なアプリケーションをご紹介します。 光学フィルムの表面粗さや内部のボイド検出、光導波路の形状や屈折率差のOPD評価で採用実績が増えてきました。いままで見えなかったものが簡単・迅速に観えることで、お客様に新たな価値を提供します。

正しい粒子径測定を行うためのノウハウとトラブルシューティング、そしてそのための少し踏み込んだ粒子径測定・解析の原理をご紹介します。 動的光散乱法による粒子径測定装置をお使い頂く中で、「思ったようなデータが得られない」「この解析であっているのかな？」などの、お困りごとはありませんか？ サンプル毎の適切な前処理から、よくあるご質問まで、まとめてご紹介致します。

ラインスキャン膜厚計は非接触でかつ高精度で全面膜厚測定を実現し、製品開発プロセスや品質管理の効率化に影響をもたらします。 ラインスキャン膜厚計の原理、特長および工業分野におけるアプリケーション事例についてご紹介いたします。