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  ゼータ電位(27)

  ゼータ電位とは、コロイド粒子が液中で帯びる電気的性質を示す重要な指標です。粒子は液体中で表面に電荷を持ち、その周囲には、電気的に反対の電荷を持つイオンが集まり「電気二重層」を形成します。この内側の「 Stern層」と外側の「拡散層」との境界における電位を「ゼータ電位」と呼びます。ゼータ電位の大きさは、粒子の分散安定性に深く関わり、絶対値が大きいほど粒子同士の反発力が強く、分散が安定になる傾向があります。ゼータ電位を測定することで、分散の安定性評価や、界面活性剤やpHの最適条件の検討、さらには粒子表面改質などの研究・開発に役立ちます。医薬品、化粧品、食品、電子材料をはじめとする幅広い分野で活用されています。

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  粒子径・粒子径分布(28)

  粒子径とは、粒子の大きさを示す重要な物理的パラメータです。コロイドや分散系などの微粒子は、形状や構造が多様なため、一般に「等価球径」と呼ばれる、体積や拡散速度など物理的特性が等価になる仮想的な球の直径で表現されます。粒子径は、粒子の分散安定性、沈降性、反応性、さらには製品の機能や品質に直接影響するため、正確な粒子径測定が重要となります。動的光散乱法（DLS）は、液中における微粒子の粒子径分布測定法として広く用いられており、ナノ粒子からサブミクロン粒子まで非破壊で簡便に測定できます。また、測定された粒子径分布から平均粒子径や粒度分布幅などを評価でき、分散系材料の基礎研究から品質管理まで幅広く利用されています。医薬品、化粧品、食品、化学材料、電子部材など、多様な産業分野において粒子径の把握と管理は非常に重要です。

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  分子量(4)

  大塚電子の分子量測定装置は、高分子やタンパク質などの分子量を高精度に評価するための機器です。主な装置には、静的光散乱法や動的光散乱法を用いた「分子量・粒子径測定装置」などがあり、試料に光を照射し、その散乱強度の解析から絶対分子量を非侵襲的かつ短時間で求めることが可能です。大塚電子の分子量測定装置は、分子の凝集度や溶液中での安定性評価にも対応しており、医薬品、バイオテクノロジー、化学、食品など幅広い分野で利用されています。測定は微量サンプルにも対応し、操作が簡便で再現性の高いデータが得られるため、研究開発から品質管理まで幅広い用途で活用できます。また、導入後の技術サポートも充実しています。

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  キャピラリー電気泳動(1)

  キャピラリー電気泳動（Capillary Electrophoresis：CE）は、微細なキャピラリー管内で液体試料に高電圧をかけることで、粒子や分子をその電荷や大きさの違いによって分離・分析する手法です。キャピラリー電気泳動法を用いることで、コロイド粒子やナノ粒子の粒子径や分布、ゼータ電位などの特性評価が可能です。特に、粒子がキャピラリー内を泳動する速度（電気泳動移動度）を測定することで、ゼータ電位を精度よく算出できます。また、キャピラリー電気泳動は分析時間が短い上、微量サンプルでも高感度な分析が可能で、分散媒や粒子表面の状態変化による特性の違いも評価できます。医薬品、食品、化粧品、化学・材料分野など幅広い分野で、粒子径やゼータ電位の評価手法として広く活用されています。

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  遺伝子解析装置(1)

  大塚電子が取り扱うBio Fragment Analyzer（バイオフラグメントアナライザー）は、PCRとキャピラリー電気泳動が一台で測定できる装置です。従来のアガロースゲル電気泳動よりも高速かつ簡便で、短時間で複数サンプルを同時解析でき、効率的なデータ取得が可能です。またゲルビュー機能で、疑似的にアガロースゲルと同様の視認性を実現。大規模な研究施設から分子生物学、バイオ医薬品、ゲノム編集など幅広い分野の研究開発・品質管理まで採用されています。また、簡便な操作性と高い分解能、研究効率化と信頼性向上を強力にサポートします。

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  蛍光評価装置(1)

  蛍光評価装置

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  分光関連機器(3)

  分光関連機器は、物質に光を照射し、その反射・吸収・透過・発光などの光の特性を測定することで、物質の構造や性質などを分析する装置です。大塚電子では、可視・近赤外から紫外・赤外領域まで幅広い波長範囲をカバーする多様な分光器を展開しており、各種分析・評価ニーズに対応しています。主な分光関連機器には、全光束測定装置、分光光度計などがあります。これらは、例えばLEDや有機ELの発光特性評価、材料の光学的定量評価、表面分析、膜などの相互作用解析に利用されます。高感度かつ高精度な測定により、研究開発から品質管理まで幅広く活用されており、医薬品、食品、化学、電子部品、自動車など多様な分野で導入が進んでいます。また、使いやすさや測定再現性、アフターサービスにも注力し、顧客の課題解決をサポートしています。

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  膜厚計・厚み計(8)

  膜厚計・厚み計は、測定対象に光を照射し、反射光を測定することにより、膜厚測定を行うことができます。光学式のため非接触で瞬時に膜厚測定が可能です。多層膜の測定ができる、高精度などメリットの多い方式です。研究開発から品質管理、全数検査まで対応なラインナップを取り揃えております。

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  インプロセス用評価機器(9)

  大塚電子のインプロセス用評価機器は、製造ライン上でリアルタイムに品質やプロセス状態の管理・評価を行うための装置です。これらの機器は、生産工程を止めずに連続的かつ自動的に測定・解析を実施できるため、効率的なプロセス管理と製品品質の安定化に大きく貢献します。代表的な装置には、厚み、色などをオンラインでモニタリングでき、高速測定する装置があります。これらは、化学、食品、飲料、医薬品、材料、電子部品など多様な製造現場で広く採用されており、異常検知やプロセス最適化、トレーサビリティ確保に役立ちます。特に、大塚電子のインプロセス用評価機器は導入後のサポート体制も充実しています。生産効率向上と安定した高品質製品づくりを支える強力なツールです。

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  光波動場三次元顕微鏡(1)

  光波動場三次元顕微鏡は、光の波動場情報を利用して、試料の三次元構造や形態を高精度かつ非破壊で観察できる最新の技術です。本手法では、レーザーなどのコヒーレント光を試料に照射し、厚みと屈折率の変化によって波面が変化します。その変化を波面センサでとらえ、独自のソフトウェア上で数値解析し、像を再生しています。この波動場情報を高度な数値計算で解析することにより、nｍオーダーの透明な異物・欠陥の評価、細胞の三次元形状などを詳細に可視化・定量化できます。特に、試薬や蛍光標識を用いることなく、溶液中の粒子の実際の姿や粒子径分布、凝集・沈降の状態を動的・リアルタイムに観察できるのが特長です。医薬品や化粧品、バイオ、食品、材料開発分野において、粒子径や粒子分布評価、製品開発・品質管理の強力なツールとして活用されています。

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  機能材料評価機器(10)

  機能性材料評価機器は、サンプルに光を照射し、透過・反射を測定することにより、膜厚・透過率・反射率・色・偏光情報・複屈折位相差・透明体の三次元観察などを行うことができます。研究開発から品質管理、全数検査まで対応可能です。

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  フィルム評価機器(5)

  フィルム評価機器は、フィルムに光を照射し、透過・反射を測定することにより、膜厚・透過率・反射率・色・偏光情報・複屈折位相差・透明体の三次元観察などを行うことができます。研究開発から品質管理、全数検査まで対応可能です。

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  半導体評価機器(6)

  大塚電子の半導体評価装置は、半導体材料やデバイスの特性評価に特化した高性能な分析機器を提供しています。主な装置には、ウエハや基板の物理パラメータを非破壊・非接触で短時間に測定可能な装置があります。これらの装置は、半導体ウエハの厚みなどの重要なパラメータを高精度・自動で測定でき、研究開発や生産工程、品質管理に広く導入されています。また、独自の測定技術により、表面汚染や膜厚非均一性の解析も可能であり、SiCやGaNなど次世代パワー半導体材料評価にも対応し、半導体産業の多様なニーズに応えています。測定技術や装置開発、ユーザーサポートにおける豊富な実績が大塚電子の特長です。

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  光源照明評価機器(6)

  光源照明評価機器はLEDなど、自発光デバイスの発光特性を評価することで、様々な光学特性評価（全光束・配光特性・色・温度特性など）を行うことができます。大塚電子では、可視・近赤外から紫外・赤外領域まで幅広い波長範囲をカバーする多様な分光器を展開しており、各種分析・評価ニーズに対応しています。高感度かつ高精度な測定により、研究開発から品質管理まで幅広く活用されており、多様な分野で導入が進んでいます。また、使いやすさや測定再現性、アフターサービスにも注力し、顧客の課題解決をサポートしています。

• FPD関連評価機器(2)

  大塚電子のFPD関連評価装置は、FPDの光学特性評価に特化した高性能な評価機器を提供しています。主な装置には、フィルムのリタデーションを簡便かつ高性能に短時間に測定可能な装置があります。 また、分光配光測定システムにより、FPDの配光特性(光度・色）評価も可能です。

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