半導体評価機器

半導体評価機器
半導体評価機器
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分光干渉式ウェーハ膜厚計『SF-3』
各種ウェーハの厚み測定や、各種研削・研磨・貼り合わせなどへのプロセスへの組み込みに!
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ラインスキャン膜厚計『オフライン(ウェーハ対応タイプ)』
ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面フィルム検査を実現!
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膜厚測定装置 スマート膜厚計『SM-100 series』
持ち運び可能なハンディタイプの膜厚測定装置!サンプルを傷つけることもなく測定可能
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膜厚計 顕微分光膜厚計 『OPTM series』
1ポイント1秒測定&測定エリア最小3μm!高性能で使いやすい顕微分光 膜厚計
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マルチチャンネル分光器『MCPD-9800』
広ダイナミックレンジ!高速・高再現性、軽量・コンパクトが特長的
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ロードポート対応膜厚測定システム『GS-300』
半導体工場の膜厚ニーズに合わせたインテグレーションが可能!
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