インプロセス用評価機器

インプロセス用評価機器
大塚電子のインプロセス用評価機器は、製造ライン上でリアルタイムに品質やプロセス状態の管理・評価を行うための装置です。これらの機器は、生産工程を止めずに連続的かつ自動的に測定・解析を実施できるため、効率的なプロセス管理と製品品質の安定化に大きく貢献します。代表的な装置には、厚み、色などをオンラインでモニタリングでき、高速測定する装置があります。これらは、化学、食品、飲料、医薬品、材料、電子部品など多様な製造現場で広く採用されており、異常検知やプロセス最適化、トレーサビリティ確保に役立ちます。特に、大塚電子のインプロセス用評価機器は導入後のサポート体制も充実しています。生産効率向上と安定した高品質製品づくりを支える強力なツールです。
1~10 件を表示 / 全 10 件
-
ラインスキャン膜厚計 インラインタイプ
ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面フィルム検査を実現!
最終更新日
-
インラインフィルム評価システム MCPD Series
インラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊での膜厚、濃度、色などの検査が可能
最終更新日
-
インライン膜厚評価システム MCPD Series
インライン膜厚評価システムは、光学式のため非接触・非破壊膜厚で膜厚測定が可能
最終更新日
-
インライン反射率評価システム MCPD Series
インラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊での透過率、吸光度、色などの検査が可能
最終更新日
-
インライン透過率評価システム MCPD Series
インラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊での透過率、吸光度、色などの検査が可能
最終更新日
-
分光干渉式ウェーハ膜厚計 SF-3
各種ウェーハの厚み測定や、各種研削・研磨・貼り合わせなどへのプロセスへの組み込みに!
最終更新日
-
マルチチャンネル分光器 MCPD-9800
広ダイナミックレンジ!高速・高再現性、軽量・コンパクトが特長的
最終更新日
-
高速LED光学特性モニター LE Series
光ファイバーにより自由な測定系が可能!LED生産工程での光学特性を高速で評価します
最終更新日
-
ロードポート対応膜厚測定システム GS-300
半導体工場の膜厚ニーズに合わせたインテグレーションが可能!
最終更新日
-
リタデーション測定装置 RETS-100nx
独自の分光器だからできる高精度測定!かんたんソフトウェアで操作性大幅UP
最終更新日