ラインスキャン膜厚計『インラインタイプ』

ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面フィルム検査を実現！

最終更新日 2025年07月04日

インラインフィルム評価システム『MCPD Series』

インラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊での膜厚、濃度、色などの検査が可能

最終更新日 2025年07月04日

インライン膜厚評価システム『MCPD Series』

インライン膜厚評価システムは、光学式のため非接触・非破壊膜厚で膜厚測定が可能

最終更新日 2025年07月14日

インライン反射率評価システム『MCPD Series』

インラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊での透過率、吸光度、色などの検査が可能

最終更新日 2025年07月14日

インライン透過率評価システム『MCPD Series』

インラインフィルム評価システムは、光学式のため非接触・非破壊での透過率、吸光度、色などの検査が可能

最終更新日 2025年07月14日

分光干渉式ウェーハ膜厚計『SF-3』

各種ウェーハの厚み測定や、各種研削・研磨・貼り合わせなどへのプロセスへの組み込みに！　

最終更新日 2025年07月04日

マルチチャンネル分光器『MCPD-9800』

広ダイナミックレンジ！高速・高再現性、軽量・コンパクトが特長的　

最終更新日 2025年07月04日

高速LED光学特性モニター『LE Series』

光ファイバーにより自由な測定系が可能！LED生産工程での光学特性を高速で評価します　

最終更新日 2025年07月04日

ロードポート対応膜厚測定システム『GS-300』

半導体工場の膜厚ニーズに合わせたインテグレーションが可能！

最終更新日 2025年07月04日

リタデーション測定装置『RETS-100nx』

独自の分光器だからできる高精度測定！かんたんソフトウェアで操作性大幅UP　

最終更新日 2025年07月04日