ラインスキャン膜厚計【インラインタイプ】
ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面フィルム検査を実現！
「ラインスキャン膜厚計(インラインタイプ)」は、インラインでの フィルム生産現場においてフィルムの膜厚を全幅・全長測定できる装置です。 独自の分光干渉法に新たに開発した高精度膜厚演算処理技術を組み合わせる ことで、最短0.001秒毎の測定間隔で500mm幅(1台使用時)のフィルムの 膜厚測定が可能。 また、膜厚測定の専門メーカーだからできる充実サポートや、バタつきに 強い光学系を採用しているなどといった特長が備わっております。 【特長】 ■ラインスキャン方式の採用で「抜け」のない全面フィルム検査を実現 ■膜厚測定の専門メーカーだからできる充実サポート ■高速・高精度に測定が可能 ■バタつきに強い光学系を採用 ■幅広のサンプル(TD方向に最大10m測定可能) ■ハード・ソフト共にオリジナル設計 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
基本情報
【仕様】 ■膜厚範囲：0.1～300 μm ■測定幅：500 mm～最大10 m ■測定間隔：1 ms～ ■装置サイズ(W×D×H)：81×140×343 mm ■重量：4 kg(ヘッドのみ) ■最大消費電力：AC100V±10％ 125VA ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
価格帯
納期
型番・ブランド名
LS series
用途／実績例
※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
関連動画
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この製品に関するニュース（3）
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第13回 FILMTECH JAPAN［大阪］ - 高機能フィルム展 - に出展
2025年5月14日（水）から16日（金）まで、インテックス大阪で「第13回 FILMTECH JAPAN［大阪］ - 高機能フィルム展 - 」が開催されます。 大塚電子のブースでは「光波動場三次元顕微鏡 MINUK」をはじめ、「ラインスキャン膜厚計」、「スマート膜厚計」などフィルム関連の測定装置を展示致します。 各種資料を取り揃えて、皆様のご来場をお待ちしております。
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Webセミナー：高付加価値な機能性フィルムに不可欠な評価法と測定例 （2025年4月24日）
高品質・高機能なフィルムを製造するためには、光学特性の測定および品質評価をもとに最適な製造条件を構築することが欠かせません。本セミナーでは、当社の光を用いた測定技術を通じて、機能性フィルムや塗布剤の光学特性、面内均一性、表面改質、および分散性を評価し、高付加価値なフィルムを製造・開発する手法をご紹介します。
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Webセミナー：フィルムの全面膜厚測定をリアルタイムに実現するラインスキャン膜厚計のご紹介（2025年5月21日）
ラインスキャン膜厚計は非接触でかつ高精度で全面膜厚測定を実現し、製品開発プロセスや品質管理の効率化に影響をもたらします。 ラインスキャン膜厚計の原理、特長および工業分野におけるアプリケーション事例についてご紹介いたします。
取り扱い会社
大塚電子は、独自の｢光｣技術を用いて、大塚電子にしか出来ない画期的な新製品を作り出しています。 創業以来積み上げてきた要素技術を融合させながら、医用機器、分析機器、分光計測機器という3つの事業を展開しています。 【医用機器】 親会社である大塚製薬をはじめ、試薬メーカーなどと連携した、臨床検査機器、医療機器の開発・生産を主体とする事業を展開。最新テクノロジーを集結し、人々の健康に貢献しています。 【分析機器】 新素材解析のコアテクノロジーである光散乱の技術を、ナノテクノロジー領域の物性測定に応用。粒子径、ゼータ電位、分子量の測定法を基準に、新素材、バイオサイエンス、高分子化学、さらには半導体や医薬分野などへの展開を図ります。 【分光計測機器】 分光計測技術の代名詞であるマルチチャンネル分光器と、長年にわたって培ってきた解析技術の蓄積による製品群を生み出しています。多様化するニーズに応えながら、幅広い分野へと拡大し続けています。
